ICP-AES法测定硫酸钯中的二十二个杂质元素

发布时间：2021-06-11 12:48

　　建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硫酸钯中杂质元素含量的分析方法。考察了硫酸钯基体对所测元素的影响,将硫酸钯试样用盐酸处理后直接测定,通过分组建立标准溶液、选择合适的测定谱线、扣除背景来测定样品中铂、铑、铱、钌、金、银、铝、铋、镉、铬、铜、铁、镁、锰、镍、铅、锡、锌、钙、钾、钠、硅22个杂质元素。各待测元素加标回收率为87.2%～109.7%,相对标准偏差为1.14%～4.64%。方法完全可以满足硫酸钯产品中的杂质元素的分析要求。 

【文章来源】：云南冶金. 2020,49(02)

【文章页数】：5 页

【文章目录】：
1 实验部分
    1.1 仪器及工作条件
    1.2 试剂及标准溶液
    1.3 实验方法
2 结果与讨论
    2.1 基体对所测元素的影响
    2.2溶样方法试验
    2.3酸度的选择
    2.4 杂质元素检出限的试验
    2.5 方法加标回收率
    2.6 方法精密度
3 结语


【参考文献】：
期刊论文
[1]多元光谱拟合ICP-AES法同时测定钯中22个杂质元素[J]. 李光俐,徐光,何姣,刘伟,王应进,方海燕.  贵金属. 2012(02)
[2]硫酸钯活化印制电路铜箔化学镀镍[J]. 彭春玉.  广东化工. 2010(10)



本文编号：3224565