一种TiAl合金高温低循环疲劳性能及失效机理

发布时间：2018-01-18 06:40

  本文关键词：一种TiAl合金高温低循环疲劳性能及失效机理　出处：《航空材料学报》2017年05期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：通过对TiAl合金进行总应变范围控制的高温(750℃)低循环疲劳实验,研究双态(Duplex,DP)和全片层(Fully Lamellar,FL)组织形态对TiAl合金低循环疲劳性能和寿命的影响,并采用总应变幅-寿命方程对两类组态TiAl合金低循环疲劳寿命进行预测。结果表明:在相同温度和应变条件下,DP组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力明显低于FL组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力;采用总应变幅-疲劳寿命方程能够准确预测两种组态TiAl合金在750℃下的疲劳寿命,预测寿命基本位于试验寿命的±2倍分散带以内;另外,DP组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的近心部,而FL组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的次表面,两类组态TiAl合金的高温疲劳失效机理存在明显差异。
[Abstract]:The effects of duplex ( Duplex , DP ) and full Lamellar ( FL ) on the low cycle fatigue life of TiAl alloy were studied by high temperature ( 750 鈩，

本文编号：1439902