集中质量对模拟测头基频的影响

发布时间：2018-05-12 01:36

  本文选题：集中质量 + 基频　； 参考：《西安工业大学学报》2016年12期

【摘要】：为了改善三维模拟测头的响应特性及其动态稳定性,对三维模拟测头进行了基频分析.将模拟测头的各主要组成部件简化为集中质量模型,采用模态分析方法分析了工作基频对响应特性及测量精度的影响.通过集中质量分布位置及其影响敏度分析,结果表明:集中质量及其位置对于测头系统基频的影响呈非线性关系.以集中质量为约束条件的频率响应特性分析可有效提高模拟测头动态性能及测量精度,为提高模拟测头测量精度及动态性能提供了新途径.
[Abstract]:In order to improve the response characteristics and dynamic stability of 3D analog probe, the fundamental frequency of 3D analog probe is analyzed. The main components of the simulated probe are simplified into a lumped mass model, and the effect of the working fundamental frequency on the response characteristics and measurement accuracy is analyzed by modal analysis method. By analyzing the location of mass distribution and its influence sensitivity, the results show that the influence of lumped mass and its position on the fundamental frequency of probe system is nonlinear. The analysis of frequency response characteristics with lumped mass as constraint condition can effectively improve the dynamic performance and accuracy of analog probe, and provide a new way to improve the measurement accuracy and dynamic performance of analog probe.
【作者单位】： 西安工业大学机电工程学院;西安建筑科技大学机电工程学院;
【基金】：陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(2015JS043)
【分类号】：TG806

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本文编号：1876558