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不同淬火及时效工艺对Zr-Sn-Nb合金第二相析出行为的研究

发布时间:2021-01-03 07:13
  本文以一种新型国产Zr-Sn-Nb合金为研究对象,以金相显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)为主要手段,结合各种现代测试分析技术,对研究对象采取不同的淬火以及时效处理,系统研究了不同淬火工艺、时效温度及时间对Zr-Sn-Nb合金中显微组织以及第二相析出及演变规律的影响,主要结论如下:不同淬火工艺下样品的显微组织有所差别,淬火样品中板条宽度随着分级淬火温度的降低而增大;随着淬火过程中分级淬火温度的降低,淬火后微观组织变化依次为:板条状马氏体+针状马氏体(1030°C)→板条状马氏体+针状马氏体+basket-weave魏氏组织(900°C)→Lenticular(800°C、700°C);在1030°C及900°C淬火后的样品中观察到{101(?)1}孪晶。四种状态下的样品淬火后都仅发现了残余β相+ω相,β相主要为棒状和块状,ω相呈白色颗粒状。在残余β相中存在着Fe元素和Nb元素的偏聚,1030°C下水冷的组织中仅有Fe元素的富集,随着分级淬火温度的降低,Nb元素扩散偏聚程度逐步加深,在残余β相中检测到Nb元素的含量也逐渐增加。α和β相、β和ω相之间均存在一... 

【文章来源】:重庆大学重庆市 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:77 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

不同淬火及时效工艺对Zr-Sn-Nb合金第二相析出行为的研究


实验流程图

板条,宽度,二次电子,样品


重庆大学硕士学位论文12火工艺下的淬火板条宽度进行定量的统计。统计方法如下:首先选择不同状态的10000×下的样品各5张,以减少统计数据的偏差,确保结果的可靠性;其次使用Photoshop软件,在软件中用垂直于板条的红线尽可能多地在照片上描画出每个板条的宽度,如图2.2所示;之后打开Imageproplus软件,将ECC照片拖入,新建与ECC照片上相同的标尺,再用该标尺来计量图2.2b中所有红线的长度,计量完成后将数据导入Excel中,做出每种状态样品的板条宽度分布图。图2.2板条宽度测量方法Fig.2.2Methodusedtomeasuretheα-platewidth2.3.3扫描电镜(SEM)技术及样品制备除了电子通道衬度像之外,扫描电子显微镜中的二次电子像也是一种主要的成像手段。二次电子是最常见的成像信号,一般是从样品表面5-10nm层内在入射电子作用下被发射出来,能量在0-50eV之间。二次电子来自样品表面,产额也主要由样品表面形貌所决定,相对于背散射电子,它对样品的原子序数并不敏感,而是对样品表面状态十分敏感,因此主要用于表征样品的表面形貌。在锆合金中,由于第二相粒子比基体耐腐蚀性能优良,对锆合金进行特定的腐蚀处理后,两者形貌上区别较大。因此对锆合金中第二相的观察通常使用二次电子成像技术。二次电子像的样品制备流程与金相样品制备前期流程相同,减少彩色金相中阳极覆膜这一步骤,采用相同的工艺进行样品打磨及腐蚀即可得到所需样品。本课题中使用TESCANMIRA3场发射扫描电镜来获取二次电子像,扫描电子显微镜的工作参数与获取ECC像时的工作参数相同。2.3.4透射电镜(TEM)技术及样品制备透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM)是一种把经

板条,测量方法,宽度,二次电子


重庆大学硕士学位论文12火工艺下的淬火板条宽度进行定量的统计。统计方法如下:首先选择不同状态的10000×下的样品各5张,以减少统计数据的偏差,确保结果的可靠性;其次使用Photoshop软件,在软件中用垂直于板条的红线尽可能多地在照片上描画出每个板条的宽度,如图2.2所示;之后打开Imageproplus软件,将ECC照片拖入,新建与ECC照片上相同的标尺,再用该标尺来计量图2.2b中所有红线的长度,计量完成后将数据导入Excel中,做出每种状态样品的板条宽度分布图。图2.2板条宽度测量方法Fig.2.2Methodusedtomeasuretheα-platewidth2.3.3扫描电镜(SEM)技术及样品制备除了电子通道衬度像之外,扫描电子显微镜中的二次电子像也是一种主要的成像手段。二次电子是最常见的成像信号,一般是从样品表面5-10nm层内在入射电子作用下被发射出来,能量在0-50eV之间。二次电子来自样品表面,产额也主要由样品表面形貌所决定,相对于背散射电子,它对样品的原子序数并不敏感,而是对样品表面状态十分敏感,因此主要用于表征样品的表面形貌。在锆合金中,由于第二相粒子比基体耐腐蚀性能优良,对锆合金进行特定的腐蚀处理后,两者形貌上区别较大。因此对锆合金中第二相的观察通常使用二次电子成像技术。二次电子像的样品制备流程与金相样品制备前期流程相同,减少彩色金相中阳极覆膜这一步骤,采用相同的工艺进行样品打磨及腐蚀即可得到所需样品。本课题中使用TESCANMIRA3场发射扫描电镜来获取二次电子像,扫描电子显微镜的工作参数与获取ECC像时的工作参数相同。2.3.4透射电镜(TEM)技术及样品制备透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM)是一种把经

【参考文献】:
期刊论文
[1]热加工对Zr-Sn-Nb锆合金显微组织和耐腐蚀性能的影响[J]. 刘文庆,雷鸣,耿迅,李强,姚美意,周邦新.  原子能科学技术. 2007(06)
[2]我国高性能锆合金的发展[J]. 赵文金,周邦新,苗志,彭倩,蒋有荣,蒋宏曼,庞华.  原子能科学技术. 2005(S1)
[3]锆合金在核工业中的应用现状及发展前景[J]. 刘承新.  稀有金属快报. 2004(05)
[4]变形及热处理对Zr-Sn-Nb合金中β-Zr分解的影响[J]. 李强,刘文庆,周邦新.  稀有金属材料与工程. 2002(05)

博士论文
[1]加工工艺及合金成分对锆合金第二相和相变行为的影响[D]. 邱日盛.重庆大学 2014



本文编号:2954553

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