焊缝缺陷射线数字成像参考图像研究

发布时间：2024-06-29 21:15

　　X射线数字成像是射线检测的最新发展技术,被广泛地应用到压力容器、特种设备以及航空部件的无损检测中。由于焊接缺陷形态不一,检测人员水平的差异,往往存在缺陷定性的争议,制作焊缝缺陷射线数字参考图像,对检测结果的精确定性分析有着重要意义。在X射线DR成像过程中,受成像设备、成像噪声等影响,导致DR图像出现模糊、对比度低等问题,需要研究增强显示算法,对DR图像中的缺陷进行增强显示,提高缺陷检出效果。本文以铝合金搭接焊缝为研究对象,进行以下研究:(1)针对非晶硅平板探测器成像,从数字图像质量的角度出发,分析了X射线数字图像质量的三个基本参数:对比度、图像空间分辨率和信噪比。以铝合金搭接焊缝为实验对象,对其进行X射线DR检测,通过工艺试验建立了铝合金搭接焊缝射线DR成像检测工艺。依据GB/T35388-2017标准,对DR检测图像质量进行评定。结果表明,检测图像各方面指标都达到标准的要求(2)依据检测工艺对铝合金焊缝进行DR成像,得到了未熔合、未焊透、气孔、夹杂、裂纹以及其他等典型缺陷的数字参考图像,描述了各类型缺陷的影像特征。依据HB 5375-1987《铝及铝合金熔焊质量检验》标准和数字参考图...

【文章页数】：84 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图2-1非晶硅平板探测器结构图

图2-1非晶硅平板探测器结构图的主要作用是吸收X射线，实现射线能板拼接两种结构，闪烁体层材料主要有碘m之间。非晶硅光电二极管作用是捕获用是将像素单元中的电信号转换为数字电路组成。测器成像的基本过程为：入射X射线通转变为荧光发射，荧光通过闪烁体传输至接收荧光信号并将其....

图2-3胶片特性曲线

大学硕士学位论文第2章焊缝射线DR成像及般情况下，探测器对比度是用在一定的曝光量差引起的探测器响应表示的。在胶片照相中，使用一定的曝光量差引起的光学密度变化度。在平板探测器成像系统中则使用给定的曝光量差引起的灰度值比度。胶片特性曲线表示了胶片黑度随射线曝光量变化的特性....

图2-4平板探测器响应曲线

大学硕士学位论文第2章焊缝射线DR成像及般情况下，探测器对比度是用在一定的曝光量差引起的探测器响应表示的。在胶片照相中，使用一定的曝光量差引起的光学密度变化度。在平板探测器成像系统中则使用给定的曝光量差引起的灰度值比度。胶片特性曲线表示了胶片黑度随射线曝光量变化的特性....

图2-7X射线DR检测系统

图2-7X射线DR检测系统为某航空企业提供的标准焊接试样，试样材料为铝合焊接方法为钨极氩弧焊，数量100件。试样的尺寸为材厚度为2mm，如图2-8所示。图2-8部分焊接试样照片DR成像检测工艺检测结果的准确与可靠性，以铝合金搭接焊缝为研究检测工艺研究。依....

本文编号：3997902