氢化物发生-原子荧光光谱法测定高硅铝合金中的铅
发布时间:2017-07-20 21:12
本文关键词:氢化物发生-原子荧光光谱法测定高硅铝合金中的铅
【摘要】:采用NaOH溶液溶解样品,并以HCl酸化。通过补加一定量的HCl(1+1),使分取后的试液酸度保持在约2%,以HCl(φ=2%)为载流,KBH4-K_3[Fe(CN)_6]-NaOH溶液为还原剂,实现了氢化物发生原子荧光光谱法对高硅铝合金中低含量铅的测定。试验优化了高硅铝合金碱溶酸化的最佳条件,考察了铝基体、钠基体以及其他杂质离子对测定结果的影响,其干扰可以忽略不计。在选定的工作条件下,铅的质量浓度在1~10μg/L范围内呈线性关系,相关系数为0.9997,方法检出限为0.33μg/g。按照实验方法对铝合金样品和标准样品进行测定,标准样品的测定值与给定值相符,相对标准偏差(RSD,n=6)在2.3%~5.3%之间。
【作者单位】: 中国铝业郑州有色金属研究院有限公司;
【关键词】: 原子荧光光谱法 高硅铝合金 铅
【分类号】:TG115.33
【正文快照】: 铅是一种对人体有害的元素,欧盟Rosh指令中明确规定了电子电器设备中有害元素铅的含量不得超过1000μg/g。随着铝及铝合金在家用电器设备中越来越广泛的应用,对铝及铝合金中铅的测定提出了更高的要求。目前,铝及铝合金中铅的测定主要采用的是火焰原子吸收光谱法[1]和电感耦合
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1 王湘君;;高硅铝合金中锑、铜、锰、镁、铁的原子吸收分光光度法测定[J];湖南冶金;1977年04期
2 郝廷t,
本文编号:570018
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