热时效及电迁移对不同体积SnAgCu微焊点强度影响研究
本文关键词:热时效及电迁移对不同体积SnAgCu微焊点强度影响研究
更多相关文章: 微焊点 无铅钎料SnAgCu 强度 热时效 电迁移 影响
【摘要】:研究了不同体积(高度)无铅钎料SnAgCu微焊点分别经热时效和电迁移后其抗拉强度及组织变化规律。结果表明,SnAgCu微焊点在服役过程中热时效会导致晶粒粗大,电迁移在阴极界面会形成微空洞和微裂纹,晶粒粗大和缺陷的形成使微焊点强度逐渐下降;微焊点体积越小,相同服役条件下两侧铜基母材对微焊点中钎料的力学拘束越大,拘束效应越强,强度下降值就越小。
【作者单位】: 重庆科技学院冶金与材料工程学院;工业和信息化部电子第五研究所;
【关键词】: 微焊点 无铅钎料SnAgCu 强度 热时效 电迁移 影响
【基金】:国重庆市前沿与应用基础研究项目资助(cstc2014jcyjA40009) 先进焊接与连接国家重点实验室开放课题研究基金资助(AWJ-M15-05) 材料腐蚀与防护四川省重点实验室开放基金项目资助(2015CL12)
【分类号】:TG40
【正文快照】: 0引言目前,电子封装趋势是无铅化,Sn-3.0Ag-0.5Cu由于具有相对良好的工艺性能、焊接性而受到业界的广泛应用。同时,随着人们对通信产品的信息处理能力、存储空间以及方便携带等方面的要求越来越高,电子产品及其电子封装结构日益趋向微小型化、多功能化、便携化和高可靠性,微焊
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,本文编号:596451
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