X荧光能谱法快速分析钛合金中锡元素

发布时间：2017-09-28 00:09

  本文关键词：X荧光能谱法快速分析钛合金中锡元素

  更多相关文章： 锡元素 X荧光能谱 钛合金 成分分析

【摘要】：分析研究了钛合金的能量色散X射线荧光光谱,使用XRF-6型X射线荧光能谱仪对钛合金中锡元素进行了测定分析,结果表明X射线荧光能谱可有效的解决钛合金中锡元素的快速分析问题。锡元素的Kα特征射线能量值为25.193KeV,Kβ特征射线能量值为28.601KeV,通过与基体钛元素特征射线能量值的对比可以实现钛合金中锡元素的快速定性及定量分析。
【作者单位】： 北京航空材料研究院;北京普析通用仪器有限责任公司;北京科隆宇技术发展有限责任公司;
【关键词】： 锡元素 X荧光能谱 钛合金 成分分析
【分类号】：TG115.33
【正文快照】： 能量色散X射线荧光分析是一种非破坏性多元素快速分析方法,理论上可分析周期表上从硼到铀之间所有元素;分析速度快,分析浓度范围宽,是无损检测的重要方法,也是目前定性分析和定量分析的主要分析方法之一。X射线荧光能谱仪结构相对简单,可以同时观察和记录X射线的全谱,非常适合，

本文编号：932676