光电式立靶精度測量系统研究
发布时间：2021-11-19 05:25
本文主要研究了一种新型的光电式立靶精度测量系统，该测量系统是基于双线阵CCD交汇测量原理而设计的。在靶场测试中，本系统可以取代较落后的传统测试方法，很大程度上提高了立靶精度测试的效率和精确性，同时也可以极大的推进武器系统的研发过程。论文在总结国内外关于立靶精度测量方法的基础上，详细论述了双线阵CCD交汇测量的原理，推导了弹丸过靶坐标计算公式。同时完成了对该系统硬件设备的选取和连接，编写了软件控制代码，最后通过塑料弹丸和实弹试验证明了该系统的设计是成功的，能有效的测量枪炮等武器的立靶精度。在硬件设备选择过程中，首先研究了各个硬件单元的工作原理和性能指标，然后根据系统技术指标选用了佳能公司生产的UTRON线扫描标准镜头、DALSA公司的HS-82-04Kx0系列相机和X64-Xcelera Daul图像采集卡、瑞士徕卡公司的TS02型全站仪和西安工业大学研制的JYJ-90型水平天幕靶。最后，根据正交布站的要求对所有硬件设备进行了连接，完成了整个测量系统的硬件设计。在系统软件设计过程中，选用了VC++开发工具，并基于MFC编程实现了软件系统的控制和管理。同时对弹丸图像的特征和处理过程进行了详...
【文章来源】：中北大学山西省
【文章页数】：72 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
系统结构框图
制光敏区像元。在光积分周期里，光栅电形成的光生载流子将存于光敏 MOS 电容电平升高，这样形成转移脉冲。在脉冲作存器上，最后在时钟脉冲的作用下沿移位见，这种结构的 CCD 在工作时需要进行敏单元较少的摄像器件。
由于信号电荷包在转移时兵分两路，大大减少了转移的时间和次数，因此双输结构要比单边传输结构转移效率高，对于像敏数高于 256 的线阵 CCD 器件多采边传输结构[30]。.2.2 线阵 CCD 的工作原理如下图 2.5 所示为 n 位 CCD 结构示意图，从图中可以看出它由输入、输出结构OS 结构（即金属-氧化物-半导体结构，是构成 CCD 的基本单元）组成，且该 CCD 示意图是以 P 型硅为衬底的。在栅极施加大小不超过阈值、按一定规律变化的电压时在 P 型硅表面将有不同深浅的势阱形成。所形成的势阱不仅可以实现对电荷包（号电荷）的存储，同时将势阱的深浅变化同步于施加的电压变化规律，可以将电荷半导体表面传输到输出二极管，最后得到视频信号。可见，CCD 的工作过程主要荷的输入部分、电荷转移部分和信号输出部分组成。
【参考文献】：
期刊论文
[1]双线阵CCD交汇测量立靶精度系统研究[J]. 王英,曾光宇. 光电工程. 2011(10)
[2]CCD立靶操作误差的改善方法研究[J]. 王泽民,李静,雷志勇. 电子设计工程. 2011(16)
[3]图像去噪算法研究[J]. 王英,曾光宇. 电脑与信息技术. 2011(04)
[4]某炮弹立靶密度集度的影响因素分析[J]. 贠来峰,史初蕾,王建国. 弹道学报. 2009(04)
[5]线阵CCD测量高速弹丸图像信息处理研究[J]. 雷志勇,李翰山. 半导体光电. 2009(05)
[6]多光幕交汇测量弹丸立靶坐标方法研究[J]. 王坚,杜海涛,冯志远,张晨. 飞行器测控学报. 2009(04)
[7]基于天幕靶的弹丸过靶信息探测提取方法的研究[J]. 董华,倪晋平,王铁岭. 核电子学与探测技术. 2009(04)
[8]采用棱形光锥提高广角天幕立靶性能的研究[J]. 董华,王铁岭,倪晋平,彭玉春. 测试技术学报. 2009(04)
[9]CCD立靶坐标测量系统精度仿真分析[J]. 李华,李国富,雷蕾. 测试技术学报. 2009(04)
[10]线阵CCD立靶系统全视场测量误差分析[J]. 罗红娥,陈平,顾金良,夏言,栗保明. 光学技术. 2009(03)
硕士论文
[1]室内高精度立靶密集度测试技术[D]. 杜文斌.西安工业大学 2011
[2]多目标立靶密集度测试技术研究[D]. 田园.西安工业大学 2010
[3]高速线阵CCD光靶信号处理及其固件实现技术研究[D]. 杨华伟.南京理工大学 2007
本文编号：3504379
【文章来源】：中北大学山西省
【文章页数】：72 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
系统结构框图
制光敏区像元。在光积分周期里，光栅电形成的光生载流子将存于光敏 MOS 电容电平升高，这样形成转移脉冲。在脉冲作存器上，最后在时钟脉冲的作用下沿移位见，这种结构的 CCD 在工作时需要进行敏单元较少的摄像器件。
由于信号电荷包在转移时兵分两路，大大减少了转移的时间和次数，因此双输结构要比单边传输结构转移效率高，对于像敏数高于 256 的线阵 CCD 器件多采边传输结构[30]。.2.2 线阵 CCD 的工作原理如下图 2.5 所示为 n 位 CCD 结构示意图，从图中可以看出它由输入、输出结构OS 结构（即金属-氧化物-半导体结构，是构成 CCD 的基本单元）组成，且该 CCD 示意图是以 P 型硅为衬底的。在栅极施加大小不超过阈值、按一定规律变化的电压时在 P 型硅表面将有不同深浅的势阱形成。所形成的势阱不仅可以实现对电荷包（号电荷）的存储，同时将势阱的深浅变化同步于施加的电压变化规律，可以将电荷半导体表面传输到输出二极管，最后得到视频信号。可见，CCD 的工作过程主要荷的输入部分、电荷转移部分和信号输出部分组成。
【参考文献】：
期刊论文
[1]双线阵CCD交汇测量立靶精度系统研究[J]. 王英,曾光宇. 光电工程. 2011(10)
[2]CCD立靶操作误差的改善方法研究[J]. 王泽民,李静,雷志勇. 电子设计工程. 2011(16)
[3]图像去噪算法研究[J]. 王英,曾光宇. 电脑与信息技术. 2011(04)
[4]某炮弹立靶密度集度的影响因素分析[J]. 贠来峰,史初蕾,王建国. 弹道学报. 2009(04)
[5]线阵CCD测量高速弹丸图像信息处理研究[J]. 雷志勇,李翰山. 半导体光电. 2009(05)
[6]多光幕交汇测量弹丸立靶坐标方法研究[J]. 王坚,杜海涛,冯志远,张晨. 飞行器测控学报. 2009(04)
[7]基于天幕靶的弹丸过靶信息探测提取方法的研究[J]. 董华,倪晋平,王铁岭. 核电子学与探测技术. 2009(04)
[8]采用棱形光锥提高广角天幕立靶性能的研究[J]. 董华,王铁岭,倪晋平,彭玉春. 测试技术学报. 2009(04)
[9]CCD立靶坐标测量系统精度仿真分析[J]. 李华,李国富,雷蕾. 测试技术学报. 2009(04)
[10]线阵CCD立靶系统全视场测量误差分析[J]. 罗红娥,陈平,顾金良,夏言,栗保明. 光学技术. 2009(03)
硕士论文
[1]室内高精度立靶密集度测试技术[D]. 杜文斌.西安工业大学 2011
[2]多目标立靶密集度测试技术研究[D]. 田园.西安工业大学 2010
[3]高速线阵CCD光靶信号处理及其固件实现技术研究[D]. 杨华伟.南京理工大学 2007
本文编号：3504379
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