面向导弹贮存延寿的高加速寿命试验方法
发布时间:2022-01-14 14:08
为保持导弹作战效能及可靠性,设计一种贮存延寿的高加速寿命实验方法。依据可靠性理论,基于高加速寿命试验(highly accelerated life test,HALT)的原理和特点,阐述了高加速寿命试验在导弹贮存延寿试验中的应用价值,通过对HALT流程、试验剖面、试验方法的分析,设计HALT方案,给出在多种应力作用下获取故障模式及确定产品工作极限的方法。实验结果表明,该方法为提高加速试验效率提供了参考依据。
【文章来源】:兵工自动化. 2020,39(09)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
振动步进试验剖面应力施加方式
试验剖面设计:将室温降至-10℃(为产品经历自然环境温度中的较低值),按照表1中建议步长确定为10℃,温变速率为试验台最大温变速率,步阶时间定为10 min,在每一步阶温度稳定时测试试验件性能是否正常,按3.2节的方法找到试验件低温工作极限。试验剖面应力如图3所示。实验结果可以确定试验件低温工作极限,为加速贮存实验中进行低温冷冻试验确定更高的低温试验应力提供依据;通过试验过程中测试验件在低温下性能退化特性,快速发现试验件潜在失效模式。
试验剖面设计:将室温升至40℃(为产品经历自然环境温度中的较高值),按照建议步长确定步长为10℃,温变速率为试验台最大温变速率,步阶时间定为10 min,在每步阶温度稳定时,测试试验件性能是否正常,找到试验件高温工作极限。试验剖面应力如图4所示。实验结果可以确定试验件高温工作极限,为进行高温老化试验确定更高的试验应力提供依据。通过试验过程中测试验件在高温下性能退化特性,快速发现试验件潜在失效模式。
【参考文献】:
期刊论文
[1]导弹贮存延寿试验关键技术及研究进展[J]. 王浩伟,滕克难,吕卫民. 含能材料. 2019(12)
[2]温湿度因子对舰载导弹发射箱可靠性的影响分析[J]. 高松,滕克难,赵建印,何凡,刘东杰. 舰船电子工程. 2019(01)
[3]导弹装备贮存寿命加速试验技术体系探讨[J]. 张生鹏,李宏民,赵朋飞. 装备环境工程. 2018(02)
[4]微波组件产品高加速寿命试验综述[J]. 晋李华,刘中华. 电子产品可靠性与环境试验. 2017(03)
[5]某航空电子设备的HALT方案设计与实施[J]. 李贤灵,李高生. 装备环境工程. 2016(04)
[6]加速贮存寿命试验设计方法研究[J]. 李敏伟,傅耘,王丽,程丛高,蔡良续. 装备环境工程. 2014(04)
[7]卫星电子组件高加速寿命试验技术[J]. 郭秀才,冯伟泉,郑会明,杨力坡,李树鹏,马腾飞. 航天器环境工程. 2011(05)
[8]军用电子产品的高加速寿命试验[J]. 翁雷,刘庆民,张树文. 航空精密制造技术. 2009(01)
[9]温度、湿度应力在电气·电子产品失效中的作用[J]. 邬宁彪. 印制电路信息. 2005(02)
[10]提高电子产品可靠性的方法——HALT/HASS[J]. 黄英华. 信息技术与标准化. 2004(11)
本文编号:3588643
【文章来源】:兵工自动化. 2020,39(09)
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
振动步进试验剖面应力施加方式
试验剖面设计:将室温降至-10℃(为产品经历自然环境温度中的较低值),按照表1中建议步长确定为10℃,温变速率为试验台最大温变速率,步阶时间定为10 min,在每一步阶温度稳定时测试试验件性能是否正常,按3.2节的方法找到试验件低温工作极限。试验剖面应力如图3所示。实验结果可以确定试验件低温工作极限,为加速贮存实验中进行低温冷冻试验确定更高的低温试验应力提供依据;通过试验过程中测试验件在低温下性能退化特性,快速发现试验件潜在失效模式。
试验剖面设计:将室温升至40℃(为产品经历自然环境温度中的较高值),按照建议步长确定步长为10℃,温变速率为试验台最大温变速率,步阶时间定为10 min,在每步阶温度稳定时,测试试验件性能是否正常,找到试验件高温工作极限。试验剖面应力如图4所示。实验结果可以确定试验件高温工作极限,为进行高温老化试验确定更高的试验应力提供依据。通过试验过程中测试验件在高温下性能退化特性,快速发现试验件潜在失效模式。
【参考文献】:
期刊论文
[1]导弹贮存延寿试验关键技术及研究进展[J]. 王浩伟,滕克难,吕卫民. 含能材料. 2019(12)
[2]温湿度因子对舰载导弹发射箱可靠性的影响分析[J]. 高松,滕克难,赵建印,何凡,刘东杰. 舰船电子工程. 2019(01)
[3]导弹装备贮存寿命加速试验技术体系探讨[J]. 张生鹏,李宏民,赵朋飞. 装备环境工程. 2018(02)
[4]微波组件产品高加速寿命试验综述[J]. 晋李华,刘中华. 电子产品可靠性与环境试验. 2017(03)
[5]某航空电子设备的HALT方案设计与实施[J]. 李贤灵,李高生. 装备环境工程. 2016(04)
[6]加速贮存寿命试验设计方法研究[J]. 李敏伟,傅耘,王丽,程丛高,蔡良续. 装备环境工程. 2014(04)
[7]卫星电子组件高加速寿命试验技术[J]. 郭秀才,冯伟泉,郑会明,杨力坡,李树鹏,马腾飞. 航天器环境工程. 2011(05)
[8]军用电子产品的高加速寿命试验[J]. 翁雷,刘庆民,张树文. 航空精密制造技术. 2009(01)
[9]温度、湿度应力在电气·电子产品失效中的作用[J]. 邬宁彪. 印制电路信息. 2005(02)
[10]提高电子产品可靠性的方法——HALT/HASS[J]. 黄英华. 信息技术与标准化. 2004(11)
本文编号:3588643
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