基于特征的箱体零件在机检测技术研究

发布时间：2017-08-16 22:05

  本文关键词：基于特征的箱体零件在机检测技术研究

  更多相关文章： 叶序理论 检测点布置 路径规划 后置处理 二次开发 在机检测

【摘要】：加工高质量的产品不仅需要高精度高质量的加工设备,还需要高精度的检测设备。随着CIMS(计算机集成制造系统)的发展,传统的尺寸测量方法已经很难在精度和效率上满足当代加工业的需求。结合国家863资助项目和箱体零件加工行业的实际需求,针对箱体零件结构复杂,加工检测效率低,检测精度要求高等特点,以项目研发的精密镗铣加工中心为平台,对基于特征的箱体零件在机检测技术进行了深入研究,对其他数控机床检测技术的研究提供了良好的基础。论文的主要研究成果如下:(1)针对箱体零年的特殊性对箱体零件的加工特征进行分析。箱体零件上的加工面主要是大量的平面和孔系。对箱体零件特征的检测主要包括:孔的精度,孔与孔的位置精度,孔对平面的位置精度,主要平面度,还有表面粗糙度。(2)研究了箱体零件在机检测典型特征的检测点布置方案,并提出了一种新的布点方式,箱体零件的检测特征主要是平面和圆柱面,采用叶序布点方式对平面、圆柱面布置合适数量的检测点,相较常规矩形布点,在达到相同的检测精度下,取用较少数目的检测点,从而提高了检测效率。(3)研究了基于特征的在机检测路径规划方法。将构成特征的几何体进行分解成面等基元素,对每个面分别应用模拟退火算法进行检测规划,生成最优或接近最优的检测路径,提高检测效率。(4)研究了镗铣加工中心在机检测后置处理技术。依据镗铣加工中心的结构检测要求,给出了检测平面、圆柱面等典型型面的后置处理算法,开发出复合式镗铣加工中心后置处理程序,自动生成检测代码。(5)基于Solidworks开发出基于特征的在机检测数据自动生成系统。
【关键词】：叶序理论 检测点布置 路径规划 后置处理 二次开发 在机检测
【学位授予单位】：沈阳理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TG659;TG115
【目录】：

• 摘要6-7
• Abstract7-11
• 第1章 绪论11-17
• 1.1 课题的背景及意义11-12
• 1.2 在机检测国内外研究现状12-15
• 1.2.1 检测点位生成13-14
• 1.2.2 检测路径规划14-15
• 1.2.3 后置处理15
• 1.3 课题来源15
• 1.4 论文的主要工作及研究内容15-17
• 第2章 复合式镗铣加工中心在机检测系统构建17-24
• 2.1 复合式镗铣加工中心结构17-18
• 2.2 复合式镗铣加工中心在机检测系统的构建18-21
• 2.2.1 在机检测系统组成18-20
• 2.2.2 在机检测系统工作原理20-21
• 2.3 测头的分类及其测量原理21-23
• 2.3.1 测头的分类介绍21-22
• 2.3.2 接触式测头工作原理22-23
• 2.4 本章小结23-24
• 第3章 箱体零件中典型特征检测点的自动生成研究24-44
• 3.1 检测特征的分类与定义24-27
• 3.1.1 检测特征的定义24-25
• 3.1.2 检测特征的分类25-26
• 3.1.3 箱体类零件检测特征分析26-27
• 3.2 检测特征检测点数的确定27-29
• 3.3 基于叶序理论的检测点排布规划研究29-41
• 3.3.1 叶序理论29-31
• 3.3.2 圆柱上检测点的叶序排布模型31
• 3.3.3 平面上检测点的叶序排布模型31-32
• 3.3.4 圆柱面叶序布点实验32-37
• 3.3.5 平面叶序布点实验37-41
• 3.4 基于叶序理论的不规则表面检测点排布研究41-43
• 3.4.1 不规则平面检测点排布算法41-42
• 3.4.2 应用实例42-43
• 3.5 本章小结43-44
• 第4章 基于特征的在机检测路径规划44-52
• 4.1 测量基元路径44-46
• 4.2 形状特征的路径规划46-50
• 4.2.1 检测特征点检测顺序规划47-49
• 4.2.2 特征检测路径49-50
• 4.3 应用实例50-51
• 4.4 本章小结51-52
• 第5章 在机检测后置处理52-62
• 5.1 后置处理技术数学基础52-58
• 5.1.1 空间几何变换52-56
• 5.1.2 模型匹配56-58
• 5.2 在机检测程序编制基础58-61
• 5.2.1 检测宏程序58-59
• 5.2.2 宏程序编制方法59
• 5.2.3 检测宏程序应用实例59-61
• 5.3 本章小结61-62
• 第6章 基于特征的在机检测系统开发62-71
• 6.1 软件系统开发介绍62-64
• 6.1.1 Solidworks简介62-63
• 6.1.2 Solidworks二次开发63-64
• 6.2 检测系统设计64-68
• 6.2.1 检测系统框架64-65
• 6.2.2 检测系统功能模块开发65-68
• 6.3 系统应用实例68-70
• 6.4 本章小结70-71
• 结论71-73
• 参考文献73-77
• 攻读硕士学位期间发表的论文和获得科研成果77-78
• 致谢78-79

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本文编号：685742