嵌入式随机存储器测试研究及仿真

发布时间：2021-01-26 15:40

　　随着集成电路设计和制造技术的不断进步,芯片的集成度和复杂度正按照摩尔定律的速度持续提高。尤其是超深亚微米（VDSM）工艺的使用,生产过程中出现的故障也越来越多样、难测。芯片测试遇到了前所未有的挑战,已成为制约整个行业发展的瓶颈。在这种情况下,从故障类型、测试设备及测试成本考虑,可测性设计（DFT）技术成为解决芯片测试问题的主要手段之一,日益引起人们的重视。论文主要针对嵌入式系统随机存储器的测试,研究解决办法。首先,介绍了数字集成电路和存储器及测试技术发展现状、趋势。论述了存储器的基本结构、分类、故障模式和故障模型。然后,研究分析了存储器测试的方法,产生测试图形的各种测试生成算法,按图形的测试长度与存储单元大小关系分类举例介绍。这些测试算法,复杂程度不同,故障覆盖率也不同。详细分析了March算法,并将其扩展成能面向字存储器测试的算法。内建自测试（Built-In-Self-Test,BIST）技术被认为是解决由于电路集成度越来越大所造成的测试费用巨大和测试访问困难等问题的最有希望的技术。本文针对存储器测试采用MBIST。MBIST是目前大规模存储器测试最通用的方法,该方法将BIST逻辑... 

【文章来源】：湖南大学湖南省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：62 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

正常状态和SA0、SA1故障转换故障状态(4)耦合故障(CouplingFault，CF)：存储器一个单元的改变导致另外一个相邻单元的改变

0地址单元再写成“0”复原(用↓表示)。依次进行，直到全部存储单元完成为止。走步“1”的示意图如图2.5所示。走步图形是用来检查每个存储单元从“0”到“1”和“1”到“0”的转换能力及写入读出操作对信息在矩阵中的保持能力，并对译码器的检查有良好效果[9]。(2) 跳步法跳步法是一种图形灵敏度测试方法，用这种方法可以检查从一个地址存储单元到其他地址存储单元在最坏情况下的读打扰以及取数的测试时间；还能对各个存储单元的写入过程对信息在存储矩阵中保持性的影响进行有效地检查。这种方法适于检查动态译码器和读操作的影响等问题。跳步法是在齐步法的基础上增加了一重循环，即用两个寄存器寄存检测地址，一个是主检测地址，另一个是从检测地址。先将一个存储单元设为主检测单元，然后把其它各个单元依次设为从检测单元，并检测主检测单元变化对从检测单元的影响以及从检测单元读操作对主

基于MarchC-算法的BIST程序流程如图4.4，其它March算法的流程图可以同理推出。BIST控制器部分仿真波形如图4.5。图中是BIST刚启动，对RAM进行初始化写数据背景DB1的过程。up_down为1即表示控制地址产生器递增产生地址，add_fin为0表示地址递增操作还未结束，即初始化没有结束。图 4.5 初始化 BIST 控制器仿真图为了验证面向字的March算法能够有效的检测字存储器，必须将一定数量的相同类型的故障加入存储器，得出March算法对此故障类型的覆盖率。先将各种故障分别加入RAM。例如在RAM中加入50个SAF(0)故障，开始MBIST测试，在March C-算法M2步时

【参考文献】：
期刊论文
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硕士论文
[1]基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究[D]. 姚俊.哈尔滨工程大学 2007
[2]存储器测试技术及其在质量检验中的应用研究[D]. 张必超.四川大学 2005
[3]嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[D]. 高树静.青岛大学 2003



本文编号：3001369