通用存储器单粒子效应测试系统研究

发布时间：2021-02-17 17:04

　　论文是研制通用半导体存储器SEU、SEL测试系统,测试对象选择我国航天科研单位较为常用的三种半导体存储器:SRAM、EEPROM、FLASH。系统采用虚拟技术和Lab VIEW图形化编程语言来设计;通过分析翻转前后数据的内在关系,提出了一种基于单向数据流的判定算法;根据NI PXI-6541、PXI-6602的通道可重定义功能,实现了存储器的地址通道、数据通道、控制通道可重定义和测试区域的任意指定,从而扩展了系统的测试容量和测试类型。系统的功能是检测存储器存储单元位状态变化和存储器工作电流的变化,在线记录测试结果,自动控制束流快门的开关,自动切换芯片的电源,自动选择测试对象,对特殊芯片可自动生成采样波形和产生波形,特殊功能引脚可进行重定义;提供两种测试模式:改写模式和非改写模式;提供两种闩锁处理方式:延时方式和降压方式。系统在北京HI-13串列加速器单离子效应专用装置上进行了现场验证,实验时采用35Cl10,14+粒子对TC58256FT/DC256M（32M×8bits）EEPROM和Atmel公司的AM29F010B-70PC1M（128kx8bits）FLASH进行辐照,测得翻转... 

【文章来源】：西安电子科技大学陕西省 211工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：54 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
Abstract
第一章 绪论
    1.1 半导体存储器及其单粒子效应
    1.2 通用存储器SEU、SEL测试技术研究的必要性
    1.3 国内外研究状况
        1.3.1 国外研究状况
        1.3.2 国内研究状况
    1.4 论文的主要工作
第二章 系统设计原理
    2.1 系统设计思想
    2.2 系统设计目标
第三章 系统设计
    3.1 系统介绍
    3.2 系统硬件部分设计
        3.2.1 自动电源设计
        3.2.2 测试版设计
        3.2.3 束流快门自动控制部分
    3.3 系统软件部分设计
        3.3.1 系统并行结构
        3.3.2 系统流程
第四章 系统验证
    4.1 系统验证方法
    4.2 实验设备选择
    4.3 实验布局
    4.4 实验结果及分析
    4.5 结论
第五章 系统展望
致谢
参考文献


【参考文献】：
期刊论文
[1]重离子单粒子效应实验研究[J]. 路秀琴,符长波,张新,郭继宇,赵葵,林云龙,蔡金荣,韩建伟,黄建国.  核技术. 2003(04)



本文编号：3038279