嵌入式系统平台设计及其在人脸识别门禁系统中的应用
发布时间:2021-11-20 16:05
随着计算机技术、通信技术的飞速发展和3C(计算机、通信、消费电子)的融合,嵌入式系统已经广泛地渗透到科学研究、工程设计、军事技术、各类产业和商业文化艺术以及人们的日常生活等方方面面中。嵌入式已经成为通信和消费类产品的共同发展方向。论文的硬件平台采用基于ARM9的S3C2410X嵌入式开发板。ARM平台是目前主流的嵌入式处理器体系结构,S3C2410是韩国三星公司生产的一款基于ARM920T体系结构的高性能CPU,已广泛应用于嵌入式领域。本文首先介绍了ARM微处理器架构和S3C2410X处理器的主要功能,之后,详细描述了NAND Flash、JTAG、以太网和USB各接口单元电路的设计和实现。论文的软件设计主要研究了嵌入式Linux操作系统以及底层驱动程序的移植过程。在该部分中首先分析了嵌入式系统的特点、Linux在嵌入式应用系统中的架构及Linux系统的启动过程,然后详细论述了从准备交叉编译环境、Bootloader移植、内核移植、根文件系统的制作和移植,一直到设备驱动程序的移植的全过程,并在此基础上建立起一个可用的稳定的软件平台。经测试,系统可以成功地在目标平台上工作,为后续的应用开...
【文章来源】:北京邮电大学北京市 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:73 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
S3C2410X功能结构图
S只点M件从日》不使用N从叨FLASH作引导Rol使用N扣叨FLAS州乍引导R0从图2一 3S3C2410X存储器映射图由图2一3可知,S3C24lOX对外引出30条地址线,可寻址的IG地址空间处于4G总地址空间的最低层,该IG空间又被分为8个bank,其中banko一banks起始地址及大小均固定,各128M,而bank6和bank7的大小可编程。S3C2410X可采用两种引导方式:从 NANDFlash引导和不从 NANDFlash引导。采用不从 NANDFlash引导的方式,系统将使用起始地址为Ox4000000O的4K字节的内部存储器作为引导存储器;而使用 NANDFlash引导时
}}}}}44LDATA, , 1113611111图2一 5KgF1208UOMNANDFlash存储器系统电路图系统将KgF1208UOM配置到ROM/SRA入 fFlashBanko,即将S3C2410X的 NANDFlash片选信号nFCE接至两片K9F1208U0M的CE端。 2.3.3Jl,AG接口电路 JTAG(JointTestAetionGroup)是 1985年制定的检测PCB和IC芯片的标准,1990年被修改后成为IEEE的一个标准,即IEEEll49.1一1990。通过这个标准,可对具有JTAG接口的芯片的硬件电路进行边界扫描和故障检测。J飞’AG的基本原理是在器件内部定义一个测试访问端口 TAP(TestAccessPort),通过专用的JrTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过 Jl’AG接口串联在一起,形成一个JIAG链
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于s3c2410的CramFS根文件系统的移植[J]. 卢剑翔,刘成安,胡和智,刘振刚. 微计算机信息. 2006(32)
硕士论文
[1]基于AT91RM9200的ARM-Linux移植[D]. 马启杰.电子科技大学 2007
[2]嵌入式平台设计及其在智能公交系统中的应用[D]. 王艳.西北工业大学 2007
本文编号:3507676
【文章来源】:北京邮电大学北京市 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:73 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
S3C2410X功能结构图
S只点M件从日》不使用N从叨FLASH作引导Rol使用N扣叨FLAS州乍引导R0从图2一 3S3C2410X存储器映射图由图2一3可知,S3C24lOX对外引出30条地址线,可寻址的IG地址空间处于4G总地址空间的最低层,该IG空间又被分为8个bank,其中banko一banks起始地址及大小均固定,各128M,而bank6和bank7的大小可编程。S3C2410X可采用两种引导方式:从 NANDFlash引导和不从 NANDFlash引导。采用不从 NANDFlash引导的方式,系统将使用起始地址为Ox4000000O的4K字节的内部存储器作为引导存储器;而使用 NANDFlash引导时
}}}}}44LDATA, , 1113611111图2一 5KgF1208UOMNANDFlash存储器系统电路图系统将KgF1208UOM配置到ROM/SRA入 fFlashBanko,即将S3C2410X的 NANDFlash片选信号nFCE接至两片K9F1208U0M的CE端。 2.3.3Jl,AG接口电路 JTAG(JointTestAetionGroup)是 1985年制定的检测PCB和IC芯片的标准,1990年被修改后成为IEEE的一个标准,即IEEEll49.1一1990。通过这个标准,可对具有JTAG接口的芯片的硬件电路进行边界扫描和故障检测。J飞’AG的基本原理是在器件内部定义一个测试访问端口 TAP(TestAccessPort),通过专用的JrTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过 Jl’AG接口串联在一起,形成一个JIAG链
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于s3c2410的CramFS根文件系统的移植[J]. 卢剑翔,刘成安,胡和智,刘振刚. 微计算机信息. 2006(32)
硕士论文
[1]基于AT91RM9200的ARM-Linux移植[D]. 马启杰.电子科技大学 2007
[2]嵌入式平台设计及其在智能公交系统中的应用[D]. 王艳.西北工业大学 2007
本文编号:3507676
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