抵制闪存内部存储单元间耦合干扰的方案设计和性能分析

发布时间：2022-02-22 03:27

　　近年来,以闪存为代表的非易失性存储器（NVS:Non-Volatile Storage）在存储领域受到了广泛关注。凭借其高效且安全的存储特性,闪存已经在生活的许多场景得到大规模应用。闪存的高速发展使得对其可靠性需求已经越来越紧迫。存储单元尺寸大小的日趋锐减导致了闪存内部的噪声干扰日趋严重,这导致存储单元间的耦合干扰（ICI:Inter-cell Interference）成为了闪存内部最主要的干扰因素之一。本文提出了两种用于解决闪存中:ICI干扰的可行方案。主要工作如下:（1）本文分析了 ICI干扰噪声产生的本质原因,并且基于对闪存中ICI干扰的错误模式分析,提出了一种名为模式标准化（PN:Pattern Normalization）的创新方案。在PN方案的实现中,提出了一种插入保护信息（GI:Guards Inserting）的方法,以保证PN方案的良好性能。PN方案使得闪存中的ICI干扰得到了显著缓解。此外,通过结合使用PN方案,对于信道纠错编码（ECC:Error Correcting Coding）中软信息的获取也变得更加简易。通过仿真实验,我们分析了系统的误码率（BER:Bi... 

【文章来源】：厦门大学福建省211工程院校985工程院校教育部直属院校

【文章页数】：66 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
Abstract
第一章 绪论
    1.1 研究背景及意义
    1.2 研究现状
        1.2.1 闪存存储信道的研究现状
        1.2.2 闪存存储系统中差错控制技术的研究现状
    1.3 本文的结构安排
第二章 闪存的背景知识和系统模型
    2.1 闪存存储系统的基本结构
        2.1.1 闪存的基本类型
        2.1.2 闪存的结构与操作过程
    2.2 闪存存储系统中的模型分析
        2.2.1 闪存的操作过程模型
        2.2.2 ICI噪声干扰模型
    2.3 LDPC码的相关背景以及闪存系统基本模型
        2.3.1 LDPC码背景知识回顾
        2.3.2 闪存存储系统基本模型
    2.4 本章小结
第三章 模式标准化方案
    3.1 ICI干扰噪声的相关分析
    3.2 适用于SLC型闪存的模式标准化方案
    3.3 适用于MLC型闪存的模式标准化方案
    3.4 一种特殊的适用于MLC型闪存的模式标准化方案(PN3)
    3.5 PN方案仿真结果讨论分析
        3.5.1 PN方案在SLC型闪存的仿真结果分析
        3.5.2 PN方案在MLC型闪存的仿真结果分析
    3.6 本章小结
第四章 层级约束编码方案
    4.1 层级约束编码相关理论基础
    4.2 一维层级约束编码方案综述
    4.3 二维的层级约束编码方案
    4.4 2D-HCC方案仿真结果讨论分析
        4.4.1 2D-HCC方案在SLC型闪存的仿真结果分析
        4.4.2 2D-HCC方案在MLC型闪存的仿真结果分析
    4.5 本章小结
第五章 总结与展望
参考文献
致谢



本文编号：3638598