Flash存储器单粒子效应测试研究综述

发布时间：2022-10-17 16:57

　　随着Flash存储器在航天系统中的大量应用,其单粒子效应评价至关重要。首先综述了Flash存储器单粒子效应研究进展,总结出在重离子辐照实验中常见单粒子效应及其故障原因,包括由存储单元故障和外围电路故障造成的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁。随后,归纳出常见单粒子效应的测试区分方法、测试算法和测试流程,为相关测试实验研究提供参考。 

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【部分图文】：

某型NAND Flash功能模块结构[3]

电荷泵失效时的热像图[9]

3-D浮栅单元结构

【参考文献】：
期刊论文
[1]NAND Flash存储器单粒子效应试验研究[J]. 曹洲,薛玉雄,高欣,安恒,张晨光.  空间电子技术. 2019(03)

博士论文
[1]Flash存储器单粒子效应及与总剂量的协同效应研究[D]. 殷亚楠.中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所) 2018

硕士论文
[1]单粒子效应电路模拟方法研究[D]. 刘征.国防科学技术大学 2006



本文编号：3692442