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基于VMM RAL的寄存器验证方法的研究

发布时间:2022-10-22 18:56
  随着集成电路规模和复杂度的不断增大,在集成电路设计中,功能验证的作用越来越重要,是保证芯片流片是否成功的关键性因素。在功能验证中对寄存器的验证是保障后续验证工作顺利进行的重要一环,同时也是非常繁琐和容易出错的。 本文的主要内容是利用VMM(Verification Methodology Manual)中的寄存器/存储器抽象层验证技术和解决方案——RAL(Register Abstraction Layer),开发出一种验证寄存器功能的自动化、可复用的方法,并利用此方法完成了项目中寄存器的验证。本文首先研究了VMM验证方法学和RAL,然后,在此基础上重点讲述了此验证方法的开发过程,包括RAL模型产生器的设计和验证方法的实现,接着,使用此方法完成了对项目中寄存器的验证,包括RAL环境的集成,验证寄存器的初始值、复位功能、读写属性、耦合关系,最后给出仿真波形、验证结果和覆盖率统计,其中验证结果全部passed,覆盖率达到了100%。 

【文章页数】:97 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于VMM RAL的寄存器验证方法的研究


读寄存器仿真时序图

基于VMM RAL的寄存器验证方法的研究


写寄存器仿真时序图

基于VMM RAL的寄存器验证方法的研究


仿真结果

【参考文献】:
期刊论文
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[3]基于VMM的芯片验证平台设计[J]. 侯海军,郭斌林.  中国水运(下半月). 2008(12)
[4]基于FPGA的SOC验证平台的设计[J]. 于治楼,姜凯,李峰.  信息技术与信息化. 2008(05)
[5]System Verilog中的随机化激励[J]. 杨鑫,徐伟俊,陈先勇,夏宇闻.  中国集成电路. 2007(10)
[6]针对功能覆盖率的验证过程[J]. 徐伟俊,杨鑫,陈先勇,夏宇闻.  中国集成电路. 2007(07)
[7]集成电路的现状及其发展趋势[J]. 冯亚林,张蜀平.  微电子学. 2006(02)
[8]一种基于功能覆盖率的验证环境的构建方法[J]. 迟志刚,高德远,樊晓桠,靳战鹏.  计算机工程与应用. 2006(05)

博士论文
[1]嵌入式SRAM的优化设计方法与测试技术研究[D]. 周清军.西安电子科技大学 2009
[2]数字电路BIST设计中的优化技术[D]. 谈恩民.上海交通大学 2007
[3]SoC软/硬件协同设计方法研究[D]. 詹瑾瑜.电子科技大学 2006

硕士论文
[1]基于VMM的缓存管理模块的验证[D]. 胡新林.西安电子科技大学 2010
[2]基于分组传送的流量管理芯片调度的验证[D]. 刘燕.电子科技大学 2009
[3]嵌入式随机存储器测试研究及仿真[D]. 宋毅.湖南大学 2008
[4]基于March C+算法的MBIST设计[D]. 邓吉建.贵州大学 2008
[5]基于SoC的IP软核设计与验证[D]. 周悦.西安电子科技大学 2007



本文编号:3696682

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