基于标准CMOS工艺的纯逻辑非挥发性存储器关键技术研究
本文关键词:基于标准CMOS工艺的纯逻辑非挥发性存储器关键技术研究,由笔耕文化传播整理发布。
【摘要】:在电子产品中、SOC(System On Chip,片上系统)或者ASIC设计中,经常需要小容量(几十比特数到几K比特数)的NVM(Non-Volatile Memory,非挥发性存储器),但是传统的NVM由于需要多层多晶硅来形成浮栅器件,其制造生产相对于标准CMOS工艺来说,需要额外的光罩和工艺步骤,不但工艺复杂而且生产成本高,不利于系统集成;并且擦写时因为需要15V左右的高压,从而导致功耗较高,在低功耗、低成本的应用场合(如RFID)并不适用。本文主要研究基于标准CMOS工艺的纯逻辑非挥发性存储器。 本文针对UHF RFID应用,创新性地采用标准CMOS工艺设计出纯逻辑非挥发性存储器,也称为MTP(本文把研究对象称为MTP);并提出相应的存储阵列。本文采用两个栅极对接的MOS电容来模拟浮栅结构,存储信息。两个对接的MOS电容栅极面积一大一小,栅极面积大的就相当于控制栅电容(类似于Flash和EEPROM的控制栅),控制栅电容可以用来控制浮栅中的电压大小,以便形成产生FN遂穿效应所需的电场;浮栅中电荷的俘获和移除通过遂穿效应来完成。 另外,本文还创新性地采用新型的电荷泵系统,引进快慢时钟的方法分两步爬坡的形式来完成高压的抬升,拉长整体升压时间,降低编程功耗;此外,为了减少功耗,采用电容分压的形式来检测电压;采用全PMOS设计出新型的倍压器,降低了传输过程中的电荷损失,采用四相位时钟进行逻辑控制来防止PMOS管反向漏电,使得倍压器在低至1V的情况下效率仍达到60%以上,,使得MTP存储器能在低电压下编程成功。 本文使用Spectre工具进行电路的设计,使用Hspice和Spectre进行电路仿真;仿真结果表明,本文设计的MTP存储器最小读电压为1V,功耗在1uW左右;最小编程电压为1.3左右,相应的功耗为15uW左右,相对于传统EEPROM来说,优势非常明显。
【关键词】:存储器 纯逻辑 RFID UHF
【学位授予单位】:杭州电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2014
【分类号】:TP333
【目录】:
- 摘要5-6
- Abstract6-8
- 目录8-10
- 第一章 绪论10-14
- 1.1 课题背景10-11
- 1.2 课题研究意义11-12
- 1.3 论文的主要内容和结构安排12-14
- 第二章 超高频无源标签性能与存储器功耗关系14-17
- 2.1 标签识别距离与功耗的关系14-16
- 2.2 本章小结16-17
- 第三章 非挥发性存储器原理研究与分析17-32
- 3.1 NVM 概述17-19
- 3.2 只读存储器原理介绍19-27
- 3.2.1 掩膜只读存储器(ROM)20-21
- 3.2.2 可编程只读存储器(PROM)21-23
- 3.2.3 可擦除可编程只读存储器(EPROM)23
- 3.2.4 EEPROM23-25
- 3.2.5 Flash25-27
- 3.3 RRAM27-28
- 3.4 铁电存储器28
- 3.5 纯逻辑 NVM28-30
- 3.6 几种非挥发性存储器比较30-31
- 3.7 本章小结31-32
- 第四章 MTP 存储单元与阵列设计32-41
- 4.1 MTP 存储单元原理设计与分析32-38
- 4.1.1 双向遂穿存储器单元32-36
- 4.1.2 MTP 存储单元36-38
- 4.2 MTP 存储阵列设计38-40
- 4.3 本章小结40-41
- 第五章 纯逻辑 MTP 存储器电路设计41-64
- 5.1 MTP 存储器芯片系统架构设计41-42
- 5.2 译码电路设计42-44
- 5.2.1 行译码电路设计42-44
- 5.2.2 列译码电路设计44
- 5.3 电平转换电路设计44-45
- 5.4 高压管理单元设计45-62
- 5.4.1 存储器编程低功耗设计方法46-47
- 5.4.2 低压高效倍压电路设计47-51
- 5.4.3 电荷泵电路设计51-59
- 5.4.4 高压检测电路设计59-60
- 5.4.5 分压处理电路设计60-61
- 5.4.6 高压管理单元整体仿真结果61-62
- 5.5 灵敏放大器设计62-63
- 5.6 本章小结63-64
- 第六章 存储器功能仿真64-71
- 6.1 MTP 存储器总体特性64-67
- 6.2 MTP 读功能仿真67-68
- 6.3 MTP 编程功能仿真68-70
- 6.4 本章小结70-71
- 第七章 总结与展望71-72
- 致谢72-73
- 参考文献73-77
- 附录77
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前4条
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1 靳钊;无源超高频射频识别标签设计中的关键技术研究[D];西安电子科技大学;2011年
本文关键词:基于标准CMOS工艺的纯逻辑非挥发性存储器关键技术研究,由笔耕文化传播整理发布。
本文编号:375231
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