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基于VMM的USB3.0物理层数字部分的验证

发布时间:2017-08-25 07:50

  本文关键词:基于VMM的USB3.0物理层数字部分的验证


  更多相关文章: USB3.0的物理层 VMM验证 场景型激励


【摘要】:随着科技的进步,电子类产品种类日新月异,功能不断强大。随之而来,这些产品内部的芯片也越来越复杂。不仅设计不断面临着挑战,验证同样压力倍增。并且,面对日趋复杂的设计,验证正在成为芯片设计开发中工作量最大的部分。因此,IC公司逐渐将目光由传统的基于verilog的验证方法转移到更具有重用性,扩展性,,高覆盖率的基于SystemVerilog的验证方法上。VMM就是其中最前沿的高级验证方法之一。 多媒体时代的来临带来了高带宽的数据传输需求。因此,USB不断地进行升级。USB3.0带宽已提升为5Gbps,是USB1.1最高传输位速率的400多倍。越来越多的电子设备开始携带USB3.0接口。 本文基于synopsys开发的VMM验证方法,对USB3.0中的物理层数字部分进行验证,搭建了一个结构清晰、可重用、自对比的验证平台。同时,本文分析了物理层数字部分的功能点,对数据链路上可能出现的错误进行了功能性的覆盖率检测,并编写相关的场景型激励模型,完成了对物理层数字部分相关功能的仿真验证。功能覆盖率达到100%,条件覆盖率达到96.89%,行覆盖率达到98.24%,跳转覆盖率达到97.29%。 本文描述了功能覆盖率、自对比功能、层次化验证的使用。阐述功能覆盖率导向、自对比功能和层次化验证在搭建验证平台中的优势。并且,对USB3.0中的物理层数字部分进行功能性的描述。
【关键词】:USB3.0的物理层 VMM验证 场景型激励
【学位授予单位】:西安电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2014
【分类号】:TP334.7
【目录】:
  • 摘要3-4
  • Abstract4-7
  • 第一章 绪论7-11
  • 1.1 课题的背景及研究意义7-8
  • 1.1.1 USB 的发展7
  • 1.1.2 验证方法的更新7-8
  • 1.2 课题来源及目的8
  • 1.3 本文的研究内容与章节安排8-11
  • 第二章 VMM 验证方法学11-15
  • 2.1 SystemVerilog 概述11-12
  • 2.2 VMM 验证架构概述12-14
  • 2.3 本章小结14-15
  • 第三章 物理层功能架构15-39
  • 3.1 USB3.0 简介15-17
  • 3.1.1 USB3.0 物理架构15-16
  • 3.1.2 USB3.0 传输线16-17
  • 3.2 物理层架构17-21
  • 3.2.1 物理层功能概述17-18
  • 3.2.2 数据路径18-19
  • 3.2.3 物理层接口信号描述19-21
  • 3.3 物理层功能详解21-34
  • 3.3.1 时钟21-22
  • 3.3.2 复位22
  • 3.3.3 功耗管理22-23
  • 3.3.4 接收器检测23-24
  • 3.3.5 低频周期性信号 (LFPS)24-25
  • 3.3.6 TXONESZEROS25
  • 3.3.7 时钟容限补偿25-27
  • 3.3.8 错误检测27-30
  • 3.3.9 回环模式30-33
  • 3.3.10 极性反转33-34
  • 3.3.11 控制信号总结34
  • 3.4 数字部分划分34-37
  • 3.4.1 数字部分功能35-36
  • 3.4.2 数字部分框图36-37
  • 3.4.3 数字部分接口信号37
  • 3.5 本章小结37-39
  • 第四章 模块级验证环境39-77
  • 4.1 功能点提取39-44
  • 4.2 验证架构44-46
  • 4.3 验证平台模块解析46-72
  • 4.3.1 验证平台结构47
  • 4.3.2 验证平台构件47-72
  • 4.4 验证方法72-76
  • 4.4.1 验证路径72-74
  • 4.4.2 验证举例74-76
  • 4.5 本章小结76-77
  • 第五章 验证结果77-91
  • 5.1 功能验证结果77-87
  • 5.2 覆盖率统计87-89
  • 5.2.1 功能覆盖率87-88
  • 5.2.2 代码覆盖率88-89
  • 5.3 本章小结89-91
  • 第六章 总结及展望91-93
  • 6.1 总结91
  • 6.2 不足91-92
  • 6.3 展望92-93
  • 致谢93-95
  • 参考文献95-97

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 范桢;欧阳典勇;;时钟电路辐射骚扰与扩频技术[J];安全与电磁兼容;2007年01期

2 李宥谋;;8B/10B编码器的设计及实现[J];电讯技术;2005年06期

3 黄辉;;USB3.0技术发展和展望[J];大众硬件;2008年10期

4 胡为东;;USB 3.0物理层测试中的一致性模式和环回模式介绍[J];国外电子测量技术;2011年08期

5 王宗超;倪凯;王伟能;王鸿钧;赵诣;;新一代高速串行接口USB3.0介绍[J];记录媒体技术;2010年02期

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9 钟文枫;;下一代芯片设计与验证语言:SystemVerilog(验证篇)[J];电子设计应用;2008年12期

10 张昌骏;;USB3.0的物理层接收端测试方案[J];电子测试;2009年10期



本文编号:735873

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