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EEPROM的扫描电镜探测和探针攻击

发布时间:2017-09-03 08:16

  本文关键词:EEPROM的扫描电镜探测和探针攻击


  更多相关文章: 侵入式攻击 EEPROM SEM 内容提取 探针探测


【摘要】:阐述两种针对芯片的侵入式攻击方法,即扫描电镜(SEM)探测和探针攻击.攻击的目标都是从EEPROM中提取数据内容,EEPROM因为通常会存储认证信息和个人密钥等敏感信息.描述两个实验过程,第一个实验利用非易失性存储器的存储特点,对一个通用存储器芯片进行预处理后直接使用SEM进行观测,试图从图像上辨别不同存储状态的单元并且定位单个存储器单元;第二个实验对某款芯片预处理后,针对单个EEPROM存储器单元晶体管各端口进行电学连接,制作焊盘(PAD),之后使用探针探测存储器单元工作电信号,从而区分不同状态的单元.
【作者单位】: 清华大学微电子与纳电子学系;
【关键词】侵入式攻击 EEPROM SEM 内容提取 探针探测
【基金】:国家自然科学基金(61472208) 国家自然科学基金与广东省联合项目(U1135004)
【分类号】:TP333
【正文快照】: 1引言半导体芯片是信息安全保护的关键,半导体芯片使用非易失性存储器,通常是EEPROM或者Flash来长时间存储敏感数据,例如验证信息,加密秘钥及其他重要数据[1],所以EEPROM或者Flash存储安全是芯片安全的重中之重.为了提高芯片的存储安全,首先掌握攻击可以更有效地设计防御策略.

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本文编号:783861

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