基于XFDTD评估雷电对计算机内部电磁环境的影响

发布时间：2017-09-14 22:17

  本文关键词：基于XFDTD评估雷电对计算机内部电磁环境的影响

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【摘要】：用XFDTD软件模拟计算了雷电电场强度为50 k V、上升沿约为4μs、脉宽为20μs的雷电电磁脉冲与计算机耦合后,在计算机机箱内几个典型位置处的耦合电场强度和能量密度随时间变化的曲线,并分析了计算机内部不同位置处的屏蔽效能。耦合产生的能量密度与对计算机系统造成损害的电磁脉冲功率密度的阈值相比可知,机箱内耦合产生的能量不影响计算机的正常工作,但在孔洞处耦合产生的能量很大。
【作者单位】： 北京信息科技大学;
【关键词】： 计算机 耦合 雷电电磁场 能量密度曲线
【基金】：国家自然科学基金项目(No.41375012) 北京市自然科学基金项目(No.KZ201411232037)
【分类号】：TP303
【正文快照】： 引言 如果雷电流出现在距计算机较近的地方,雷电电磁场会通过计算机的各类孔缝耦合到机箱内部,在芯片和元器件上感应出感应电流,可能导致电路逻辑功能紊乱,产生错误代码讯息,致使记忆信息被抹掉、运行中止等软损伤,甚至可能毁伤整个计算机节点,使计算机产生硬损伤。 本文以，

本文编号：852652