机电产品测试性辅助分析与决策相关技术研究

发布时间：2020-06-16 02:07

【摘要】：机电产品性能不断提高的同时带来了系统可靠性、测试性和维修性等问题。测试性设计技术从系统设计开始就对系统所需的测试和诊断资源进行合理的安排与配置,从而保证了系统的故障诊断能力。然而测试性设计辅助工具的缺乏影响了测试性设计的进一步发展。因此,本文开展了机电产品测试性辅助分析与决策相关技术的研究,主要工作如下: 1.测试性信息描述模型为系统设计和测试性设计提供了信息交流机制,基于建模语言EXPRESS-G构造了测试性信息描述模型,利用该模型将所得的测试性信息采用数据库进行存储,为测试性设计打下了基础。 2.针对测试方案构造中的测试选择问题,描述了测试选择优化问题的数学模型,并对测试选择解空间分布进行分析,构造了测试惩罚函数和评价函数。最后提出一种基于遗传算法的测试选择求解方法,为系统测试选择提供了比较好的实现技术。研究表明,该算法适应性好,计算效率高,能获得最佳测试选择结果。 3.针对测试序列优化问题,利用测试性信息矩阵构造了测试序列的代价评估函数,分析了测试序列优化求解方法。采用基于Huffman编码和条件熵的启发式评估函数,构造并实现了AO~*算法。通过算例验证了算法的有效性,从而大大简化了问题的求解。 4.根据测试性设计的需求,对测试性信息描述、测试选择优化和测试序列优化等功能模块进行集成,开发了测试性辅助设计平台——测试性辅助分析与决策系统。为测试性设计提供了简便有效的工具。并利用它对机电跟踪与稳定伺服平台进行测试性设计,得到了较好的效果。
【学位授予单位】：国防科学技术大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2004
【分类号】：TH17
【图文】：

为获得可行的测试方案配置，必须首先使rDF、rFI和r。满足规定的要求。不失一般性，我们分别以rDF为横轴、rFI为纵轴来研究满足测试性指标要求的可行测试方案区域，如图3一6所示。由图3一6，根据设定的rDF和rFI值，可将所有可能的备选测试集划分为4个区域，分别用工、工I、I工I、工v表示。显然，要使故障检测率和故障隔离率满足规定要求，可行的厂DF图3一6可行测试方案解区，|川日|川日|||||||||0厂测试集必须位于区域工内。在实际进行测试方案求解的过程中，我们事先很难知道各个区域内测试集的分布情况，很多时候，区域I内可能不存在可行解

国防科学技术大学研究生院学位论文AO*诊断决策树如图4一5所示。根据上一章中阿波罗号发射前的检测例子所得测试集Tor=t{tl，t，，，t，。，t，:}，采用“贪婪”启发式搜索和AO*法进行诊断测试策略生成。假设故障概率P=[0.01，0.02，0.03

【引证文献】

相关硕士学位论文 前1条

1 徐东;装备综合保障关键技术研究[D];国防科学技术大学;2006年

本文编号：2715358