云纹干涉法测定1200℃单晶材料弹性模量及泊松比研究

发布时间：2018-05-27 06:05

  本文选题：云纹干涉 + ℃　； 参考：《应用激光》2016年04期

【摘要】：通常金属试件表面零厚度光栅在800~1 000℃下就发生氧化和低固溶点金属的溢出,导致试件表面的光栅被完全覆盖,无法继续测量。本文通过特殊的物理方法处理,使试件表面光栅重新显现,从而获得1 200℃下清晰的干涉条纹,成功测试该温度下单晶材料的弹性模量和泊松比。
[Abstract]:Generally, the zero thickness grating on the surface of the metal specimen is oxidized at 800 鈩，

本文编号：1940746