拓扑成像法的分层波导结构内部缺陷检测

发布时间：2018-07-12 12:37

  本文选题：分层板 + 拓扑成像　； 参考：《应用声学》2017年06期

【摘要】：将拓扑成像理论应用于分层波导结构,分析拓扑成像法在分层波导结构缺陷检测方面的应用可行性。首先,对拓扑梯度的表达式进行理论推导,阐述拓扑成像的基础理论和成像原理,对于厚度方向刚性连接的钢-铝双层板,本文结合实际检测需求,提出了优化的拓扑梯度表达式。然后,使用ANSYS有限元软件建立声场计算模型,根据优化的拓扑梯度表达式计算了直接问题和伴随问题两种情况下的声场分布,验证拓扑成像理论的可靠性。结果表明,拓扑成像方法可以准确定位钢-铝双层板中单缺陷和多缺陷,且具有良好的检测分辨率和定位精度,说明拓扑成像法对分层波导结构中的缺陷检测具有可行性。
[Abstract]:The theory of topological imaging is applied to delamination waveguide structure, and the feasibility of applying topological imaging method to the defect detection of delaminated waveguide structure is analyzed. First of all, the expression of topological gradient is derived theoretically, and the basic theory and imaging principle of topological imaging are expounded. An optimized topological gradient expression is proposed. Then, the sound field calculation model is established by using ANSYS finite element software, and the sound field distribution under direct problem and adjoint problem is calculated according to the optimized topological gradient expression, which verifies the reliability of topological imaging theory. The results show that the topologic imaging method can accurately locate single and multiple defects in steel and aluminum bilayers, and has good detection resolution and positioning accuracy. It shows that the topological imaging method is feasible for defect detection in layered waveguide structures.
【作者单位】： 中国科学院声学研究所声场声信息国家重点实验室;中国科学院大学;
【基金】：国家自然科学基金项目(11474308,11574343)
【分类号】：TN814

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本文编号：2117183