条纹投影与相位偏折测量技术研究进展

发布时间：2018-08-30 09:59

【摘要】：条纹投影和相位偏折测量术可用于精确地测量待测物面形,在全场光学三维轮廓测量领域具有较好的发展前景。首先,介绍了条纹投影和相位偏折测量技术的基本原理,重点是这两种技术中的相位提取技术、摄像机定标技术等关键技术。其次,对条纹投影和相位偏折测量术这两种测量方法的异同点做了对比。最后,介绍了条纹投影和相位偏折测量技术在提升测量精度和速度方面的发展。为了提升测量精度,主要有校正条纹Gamma效应、提升相位提取精度、摄像机标定精度和相位-高度/梯度标定精度等途径;为了提升测量速度,主要有提升相位提取速度、相位解包裹速度等方法。
[Abstract]:Fringe projection and phase deflectometry can be used to accurately measure the shape of object to be measured. It has a good prospect in the field of full-field optical three-dimensional profile measurement. Firstly, the basic principles of fringe projection and phase deflection measurement are introduced. The emphasis is on the key techniques of phase extraction and camera calibration. Secondly, the similarities and differences between fringe projection and phase deflection measurement are compared. Finally, the development of fringe projection and phase deflection measurement technology in improving measurement accuracy and speed is introduced. In order to improve the measurement accuracy, there are several ways to improve the measurement accuracy, such as correcting the Gamma effect of fringe, raising the precision of phase extraction, calibrating the camera and the precision of phase-height / gradient calibration, and raising the speed of phase extraction in order to improve the measuring speed. Phase unwrapping velocity and so on.
【作者单位】： 浙江大学光电科学与工程学院现代光学仪器国家重点实验室;中国计量大学计量测试工程学院;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金(61475141) 应用光学国家重点实验室开放基金 浙江省自然科学基金(LY17E050014)
【分类号】：TP391.41

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本文编号：2212734