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一种通信设备机内测试系统的软件设计

发布时间:2021-12-24 01:23
  相较于传统的通过外部测试仪器对设备进行离线测试,机内测试(BIT)能够在设备内部进行故障检测,并将故障定位到外场或内场可更换单元,进而快速地完成对故障单元的更换,保障装备的作战能力。本文从机内测试的角度设计了一种应用于通信设备故障诊断的机内测试系统的软件,该软件平台通过软件界面的参数设置对硬件被测电路发送测试命令控制硬件执行测试任务,能够对硬件电路返回的测试数据进行收集分析处理,实现对模拟信号参数测量与数字电路边界扫描测试。论文在需求分析基础上给出软件整体方案设计,然后分章节详细介绍了各个功能模块的设计实现过程。论文的主要研究内容如下:1.模拟BIT电路的信号参数测量及显示。该部分包括对射频模块、中频模块、低频模块的参数测量,针对不同测量对象、不同测试模式,机内测试系统软件设计了模拟BIT各类型控制命令及参数,实现了对射频信号的频率、功率参数的大量程测量,中频FM、AM信号的调制参数测量,以及8通道低频信号参数测量。同时,根据用户设定允许范围,对测量结果进行判决和下发。2.数字BIT集成电路边界扫描测试功能。通过对边界扫描技术研究,以及对集成电路器件BSDL文件、PCB电路网表文件规范... 

【文章来源】:电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:81 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

一种通信设备机内测试系统的软件设计


数字BITE测试界面设计

寄存器,边界扫描寄存器,边界扫描单元,文件


电子科技大学硕士学位论文22图3-3指令寄存器的BSDL描述如图3-3为XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述,文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令长度为6位,然后分别给出了各指令的编码,最后对指令寄存器的初始值进行了描述,从该描述中还可知SAMPLE(采样)指令与PRELOAD(预装载)指令相同。5)边界扫描寄存器描述(BoundaryRegisterDescription),该部分内容是实现边界扫测试的最重要信息,该部分内容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如图3-4为XC6SLX16芯片边界扫描寄存器的BSDL描述。图3-4边界扫描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整个边界扫描寄存器一共拥有744个边界扫描单元,且根据边界扫描单元在扫描链路中的位置将其编号为0-743。每一个单元描述包括了八个部分,其中cellnum代表边界扫描单元在整个测试链路中的位置。type指扫描单元

边界扫描寄存器


电子科技大学硕士学位论文22图3-3指令寄存器的BSDL描述如图3-3为XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述,文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令长度为6位,然后分别给出了各指令的编码,最后对指令寄存器的初始值进行了描述,从该描述中还可知SAMPLE(采样)指令与PRELOAD(预装载)指令相同。5)边界扫描寄存器描述(BoundaryRegisterDescription),该部分内容是实现边界扫测试的最重要信息,该部分内容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如图3-4为XC6SLX16芯片边界扫描寄存器的BSDL描述。图3-4边界扫描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整个边界扫描寄存器一共拥有744个边界扫描单元,且根据边界扫描单元在扫描链路中的位置将其编号为0-743。每一个单元描述包括了八个部分,其中cellnum代表边界扫描单元在整个测试链路中的位置。type指扫描单元

【参考文献】:
期刊论文
[1]通信系统中射频功率测量的应用[J]. 苗亮.  计算机产品与流通. 2019(02)
[2]构建Windows环境下Python GUI网络编程实验环境[J]. 刘海燕,马振涛.  北华航天工业学院学报. 2018(04)
[3]Python网络编程研究[J]. 叶锋.  电脑编程技巧与维护. 2016(21)
[4]AM信号正交解调方法的性能分析[J]. 张勇,许忆南.  电子世界. 2013(13)
[5]边界扫描测试技术发展综述[J]. 刘九洲,王健.  电光与控制. 2013(02)
[6]BIT设计与发展综述[J]. 董今朝,谢永成,李光升,魏宁.  微型机与应用. 2012(21)
[7]基于贝叶斯信息融合的解析余度辅助机内测试决策[J]. 池程芝,章卫国,刘小雄.  控制与决策. 2012(10)
[8]基于信息熵的机内测试诊断策略优化技术[J]. 张陟,王伟平,李宇.  计算机测量与控制. 2012(07)
[9]电子元器件封装技术发展趋势[J]. 黄庆红.  电子与封装. 2010(06)
[10]嵌入式计算机的BIT设计与实现[J]. 刘少雄,喻卫东.  计算机工程. 2008(S1)

博士论文
[1]复杂装备智能机内测试技术研究[D]. 王志颖.电子科技大学 2011

硕士论文
[1]复杂数字电路板的边界扫描测试系统设计与实现[D]. 昌磊.电子科技大学 2019
[2]复杂电路边界扫描测试向量生成与优化方法研究[D]. 余宜璐.电子科技大学 2019
[3]基于机内测试的数控机床故障预测技术研究[D]. 蔡长亮.长春工业大学 2015
[4]基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究[D]. 刘建芳.江苏大学 2006
[5]边界扫描测试系统设计与实现[D]. 徐建洁.国防科学技术大学 2005
[6]基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D]. 段军棋.电子科技大学 2004



本文编号:3549554

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