基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

发布时间：2021-01-29 14:52

　　大部分的系统级芯片（SoC）具有异步信号,基于自动测试系统（ATE）很难实现稳定的测试。通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试。 

【文章来源】：电子与封装. 2020,20(02)

【文章页数】：3 页

【部分图文】：

SoC功能

被测器件的主要功能均是通过往EMI地址信号中写入控制指令EMI数据来实现的，这就要求控制指令EMI数据与EMI地址必须实现严格的时序匹配，即输入的EMI数据位要与输出的EMI地址位相对应，工作时序关系如图2所示，D1数据对应A1地址，数据Dn对应地址An。由于被测器件的输出EMI地址信号时间不固定，而通过ATE发送EMI数据信号的时间是固定的，所以被测器件在测试过程中EMI数据信号和EMI地址信号无法进行有效的时序匹配，从而导致被测器件无法进入到正确的工作状态。3 测试解决方案

为了使EMI数据和EMI地址进行有效的时序匹配，可以将EMI数据先存储到足够容量的FLASH中，通过片选控制信号、读写控制信号、模式选择等控制信号实现通信，在捕获到相应的EMI地址输出时再从FLASH中发送相应的EMI数据，让被测器件能够正确地工作。测试原理如图3所示。3.1 FLASH芯片的选取


本文编号：3007075