基于三值神经网络和混沌搜索的数字电路串扰时滞故障测试生成算法（英文）

发布时间：2021-07-09 18:16

　　提出了一种有效的串扰时滞故障测试生成算法,该算法使用了三值神经网络理论和混沌搜索方法。首先在电路的受害点处把电路分成两个部分,对第一部分,可以得到时滞时间表达式;对第二部分,使用混沌搜索和三值神经网络网络的方法把故障传播到输出端。最后,能够把故障传播到输出端且使时滞时间表达式取最大值的输入矢量就是串扰时滞故障的最优测试矢量。实验结果表明该算法能够容易地得到故障输入测试矢量,平均测试生成时间小于0. 25μs,故障覆盖率能够达到98. 2%。 

【文章来源】：机床与液压. 2019,47(06)北大核心

【文章页数】：5 页

【文章目录】：
1 Introduction
2 Introduction of crosstalk delay fault
3 The realization of algorithm
    3.1 Circuit decomposition
    3.2 Propagating the fault effect based on three-value neural networks and chaotic searching
    3.3 Test generation of maximal crosstalk delay fault’s
4 Results of experiment
5 Conclusion


【参考文献】：
期刊论文
[1]级联混沌及其动力学特性研究[J]. 王光义,袁方.  物理学报. 2013(02)
[2]遗传优化三值神经网络多故障测试生成算法[J]. 吴丽华,王旭东,史芳芳,杨洁琼.  仪器仪表学报. 2010(08)
[3]基于神经网络的组合电路测试生成算法[J]. 刘晓东,孙圣和.  哈尔滨工业大学学报. 2002(02)
[4]神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用[J]. 徐建斌,李智.  电路与系统学报. 2001(04)



本文编号：3274240