基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
发布时间:2021-08-15 23:12
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
【文章来源】:湖南大学学报(自然科学版). 2020,47(12)北大核心EICSCD
【文章页数】:8 页
【部分图文】:
LocalSearch方法流程图
【参考文献】:
期刊论文
[1]一种改进的SRAM故障内建自检测算法[J]. 曾健平,王振宇,袁甲,彭伟,曾云. 湖南大学学报(自然科学版). 2019(04)
[2]Efficient zonal diagnosis with maximum satisfiability[J]. Meng LIU,Dantong OUYANG,Shaowei CAI,Liming ZHANG. Science China(Information Sciences). 2018(11)
[3]检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究[J]. 方琼,邵瑾. 集成电路应用. 2018(07)
[4]结合问题特征的分组式诊断方法[J]. 刘梦,欧阳丹彤,刘伯文,张立明,张永刚. 电子学报. 2018(03)
[5]DPSO算法在故障诊断测试集优化中的应用[J]. 姜伟,王宏力,张忠泉,何星. 自动化仪表. 2013(04)
[6]平均计算时间复杂度优化的动态粒子群优化算法[J]. 王沁,李磊,陆成勇,孙富明. 计算机科学. 2010(03)
[7]基于粒子群算法的故障测试集优化[J]. 侯艳丽,赵春晖,胡佳伟. 电子测量与仪器学报. 2008(04)
[8]基于遗传排序的测试集优化[J]. 乔家庆,付平,尹洪涛. 电子学报. 2007(12)
[9]基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法[J]. 康波,陈光■,吕炳朝. 仪器仪表学报. 2005(01)
博士论文
[1]遗传算法在VLSI设计自动化中的应用研究[D]. 王小港.中国科学院上海冶金研究所 2001
本文编号:3345110
【文章来源】:湖南大学学报(自然科学版). 2020,47(12)北大核心EICSCD
【文章页数】:8 页
【部分图文】:
LocalSearch方法流程图
【参考文献】:
期刊论文
[1]一种改进的SRAM故障内建自检测算法[J]. 曾健平,王振宇,袁甲,彭伟,曾云. 湖南大学学报(自然科学版). 2019(04)
[2]Efficient zonal diagnosis with maximum satisfiability[J]. Meng LIU,Dantong OUYANG,Shaowei CAI,Liming ZHANG. Science China(Information Sciences). 2018(11)
[3]检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究[J]. 方琼,邵瑾. 集成电路应用. 2018(07)
[4]结合问题特征的分组式诊断方法[J]. 刘梦,欧阳丹彤,刘伯文,张立明,张永刚. 电子学报. 2018(03)
[5]DPSO算法在故障诊断测试集优化中的应用[J]. 姜伟,王宏力,张忠泉,何星. 自动化仪表. 2013(04)
[6]平均计算时间复杂度优化的动态粒子群优化算法[J]. 王沁,李磊,陆成勇,孙富明. 计算机科学. 2010(03)
[7]基于粒子群算法的故障测试集优化[J]. 侯艳丽,赵春晖,胡佳伟. 电子测量与仪器学报. 2008(04)
[8]基于遗传排序的测试集优化[J]. 乔家庆,付平,尹洪涛. 电子学报. 2007(12)
[9]基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法[J]. 康波,陈光■,吕炳朝. 仪器仪表学报. 2005(01)
博士论文
[1]遗传算法在VLSI设计自动化中的应用研究[D]. 王小港.中国科学院上海冶金研究所 2001
本文编号:3345110
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/sousuoyinqinglunwen/3345110.html