FDD-LTE终端射频快速测试方法

发布时间：2017-05-24 15:23

  本文关键词：FDD-LTE终端射频快速测试方法，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：为了满足FDD-LTE终端市场需求产出,提高FDD-LTE终端生产测试效率,本文对FDD-LTE终端的射频生产测试方法进行了细致的研究,实现了快速测试,取得了一些研究成果。首先提出终端FDD-LTE射频自动测试系统实现。针对工厂大批量生产,提出FDD-LTE射频自动测试所需的硬件环境搭建、软件架构实现、数据库模型设计等一整套方案。硬件环境上采用罗德斯瓦茨的无线综合测试仪CMW500,配备安捷伦66319B高精密可编程电源和射频测试夹具。软件架构上为仪器的扩展预留了接口,且具备灵活配置的特性,有利于测试调试和工厂权限管理。采用SQLServer2008作为数据库服务器,为数据分析、生产过程追溯和工位管控提供了基本的保障。通过研究LTE的基础知识和关键技术,对LTE的行业技术标准进行学习,尤其是发射和接收关键项目和指标的测试步骤和标准进行分析,实现传统模式的射频常规测试。介绍了常规的测试项目,例如：发射机的最大输出功率和频率误差,接收机的参考灵敏度。对终端FDD-LTE射频快速测试进行了研究。在实现基本的FDD-LTE射频测试后,介绍了射频校准和综测提高速度的几种办法。射频校准通过芯片厂商和仪器之间的配合和同步,并且借用时隙/帧结构,避免计算机和手机、计算机和仪器之间来回切换,大幅度地提高了校准效率。射频综测则从信令方式改为非信令,减少空中协议的注册和连接时间。射频综测项目也可以借用时隙/帧结构,把测试项目从串行测试的方式改为并行方式。对快速测试的测试数据进行分析。采用工程质量的手段,通过Gage RR(测量重复性和再现性)的方法,来判断是否会因快速测试而导致测试结果的不稳定、不可靠。通过分析得到,采用这一系列快速测试方法后,整个测试系统的%GRR为24.93%(30%),在批量生产是可以被接受的。
【关键词】：FDD-LTE 终端 射频 快速测试
【学位授予单位】：西安电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TN929.5
【目录】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-10
• 缩略语对照表10-13
• 第一章 绪论13-15
• 1.1 选题缘由和意义13-14
• 1.1.1 国外学者的研究进展13-14
• 1.1.2 国内学者的研究14
• 1.1.3 存在的主要问题14
• 1.2 论文的主要研究思路和方法14-15
• 第二章 FDD-LTE终端生产射频测试系统15-30
• 2.1 硬件框架15-19
• 2.1.1 通信综合测试仪15-16
• 2.1.2 可编程精密电源16
• 2.1.3 通用总线GPIB16
• 2.1.4 屏蔽箱16
• 2.1.5 单板测试夹具16-18
• 2.1.6 测试系统硬件架构18-19
• 2.2 软件实现19-27
• 2.2.0 软件架构19
• 2.2.1 程序运行序列管理层19-20
• 2.2.2 人机界面模块20-21
• 2.2.3 参数配置模块21-22
• 2.2.4 终端控制模块22
• 2.2.5 仪器控制模块22-26
• 2.2.6 数据库模块26
• 2.2.7 程序参数模块26-27
• 2.3 数据库模型27-30
• 2.3.1 总体数据库架构27
• 2.3.2 数据库模型27-28
• 2.3.3 数据库访问的软件实现28-30
• 第三章 终端生产射频测试基本方法30-47
• 3.1 测试系统线损测量30
• 3.2 无线终端射频校准30-34
• 3.2.1 校准概述30-31
• 3.2.2 高通平台的校准特性31-33
• 3.2.3 发射机校准33
• 3.2.4 接收机校准33-34
• 3.3 终端射频综测34-47
• 3.3.0 LTE频段和带宽34-35
• 3.3.1 射频信令测试参数设置35-41
• 3.3.2 参考电平的设置方法41
• 3.3.3 射频综测项目41-47
• 第四章 FDD-LTE终端生产射频快速测试47-55
• 4.1 快速射频校准47-49
• 4.2 非信令综测49-51
• 4.3 射频口并行测试51-52
• 4.4 测试项并行综测52-55
• 第五章 快速测试的数据分析55-65
• 5.1 再生生性和再现性的研究55
• 5.2 快速测试数据的获取55-56
• 5.3 快速测试数据的分析56-65
• 第六章 结论和展望65-67
• 6.1 研究结论65
• 6.2 研究展望65-67
• 参考文献67-69
• 致谢69-71
• 作者简介71
• 1. 基本情况71
• 2. 教育背景71

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