斯托克斯光偏振态测量系统的优化
本文关键词:斯托克斯光偏振态测量系统的优化
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【摘要】:为了满足光偏振态分振幅测量模块(DOAP)对分光棱镜复杂且严格的加工要求,采用在经典DOAP透射光路及反射光路各引入一块波片的方法,组成改进后的光偏振态测量模块。推导了新的仪器矩阵表达式,通过分析波片参量对仪器矩阵条件数的影响,得到了最佳波片的参量及其关系。结果表明,优化后的斯托克斯椭偏仪测量薄膜样品的厚度和折射率的标准差分别为0.1nm和0.001。通过选择波片的最佳方位角或相位延迟量可以实现斯托克斯椭偏仪仪器矩阵的优化,从而提高系统的测量稳定性及可靠性。
【作者单位】: 华南师范大学物理与电信工程学院;
【基金】:广州市科学研究专项资助项目(2014J4100130)
【分类号】:O436.3
【正文快照】: 引言椭偏仪是研究与分析薄膜材料表面特性的重要工具[1]。由于没有转动部件,斯托克斯椭偏仪[2]能够实时或快速测量薄膜等材料的光学参量[3-4],从而可以监控薄膜生长过程、细胞的动态光学性质,以及检测材料受到外界作用时瞬时特性改变[5-7]。斯托克斯椭偏仪的核心部件是振幅分
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,本文编号:1281773
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