基于低相干光的光子晶体光纤熔点背向反射测量

发布时间：2017-12-16 19:07

  本文关键词：基于低相干光的光子晶体光纤熔点背向反射测量

  更多相关文章： 光子晶体光纤(PCF) 斜切熔接 背向反射 低相干光 干涉测量

【摘要】：光子晶体光纤(PCF)与传统单模光纤熔接时斜切熔接可以大大减小熔点处反射,但是仍然存在微弱的残余背向反射,为了精确测量该残余背向反射大小,本文基于低相干光干涉测量原理提出了一种Mach-Zehnder与Michelson混合型干涉仪。基于该干涉仪,对包层直径125μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点,以及包层直径100μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点处的背向反射进行了测量,得到背向反射率分别为-52.12 d B和-49.35 d B,并获得了熔点的位置信息。该干涉仪为光子晶体光纤斜切熔点残余背向反射的精确定位和测量提供了工具和手段,为熔点质量的改善奠定了基础。
【作者单位】： 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院;
【基金】：国家自然科学基金(61575012,61575013)~~
【分类号】：TN253
【正文快照】： 网络出版地址:www.cnki.net/kcms/detail/11.2625.V.20161018.1137.002.html引用格式:徐小斌,闫明,滕飞,等.基于低相干光的光子晶体光纤熔点背向反射测量[J].北京航空航天大学学报,2017,43(7):1300-1305.XU X B,YAN M,TENG F,et al.Measurement for back-reflection of photon

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本文编号：1297122