长景深阵列光学组件缺陷检测系统设计

发布时间：2017-12-19 12:03

  本文关键词：长景深阵列光学组件缺陷检测系统设计　出处：《光学学报》2017年03期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：介绍了神光-Ⅲ中阵列光学组件缺陷的长景深检测系统的基本组成。利用在系统光阑处进行的相位调制,可以实现景深的延拓效果,从而可以实现在3~13m物距范围内的大景深成像探测。进一步论述了光学检测系统的设计指标、设计思想、设计结果及其仿真评价。模拟结果显示该系统可以实现3~13m纵向范围内阵列光学组件缺陷的同时检测。
【作者单位】： 重庆理工大学电气与电子工程学院;中国工程物理研究院激光聚变研究中心;
【基金】：重庆理工大学星火计划项目(2014XH06)
【分类号】：TN24
【正文快照】： 2中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900神光-Ⅲ主机装置是我国在建的最大规模的高功率固体激光装置,由前端、预放大、主放大、靶场、光束控制与参数测量、计算机集中控制等6大系统组成[1]。作为神光-Ⅲ的主要功能性光学部件,主放大系统中的阵列钕玻璃放大片组对

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7 薛，

本文编号：1307879