基于分层法模拟光学薄膜的导纳轨迹图

发布时间：2018-01-16 10:21

  本文关键词：基于分层法模拟光学薄膜的导纳轨迹图　出处：《北京师范大学学报(自然科学版)》2017年03期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：采用分层法与传输矩阵法,从理论上模拟了双层减反膜、3层减反膜以及周期性多层膜的导纳轨迹图,并且分析了减反膜与具有高反射率的周期性多层膜的导纳轨迹图特性.结果表明,减反膜的导纳图终点接近于导纳轨迹图实轴上与入射介质导纳值相同的点,而周期性高反膜的导纳图终点却接近于实轴上0点或无穷大.
[Abstract]:Using hierarchical method and transfer matrix method, theoretically simulated double layer antireflection coating, 3 layer antireflection coating and periodic multilayer admittance locus, and analyze the admittance locus reduction characteristics of periodic multilayer film and film with high reflectance. The results show that the antireflective film guide region end point close to the admittance locus on the real axis and the incident medium admittance to the same value, and the periodic admittance diagram end point of high reflection films is close to the real axis 0 or infinity.

【作者单位】： 中国地质大学(北京)材料科学与工程学院;北京师范大学物理学系;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(11547241)
【分类号】：O484.41
【正文快照】： 0　引言光学薄膜常用作减反膜、高反膜,是光学仪器重要光学参数的调控器件[1-2].由于其具有良好的空间周期性,结构相对自由、改动空间大,易于结合等优点,光学薄膜技术已广泛应用于各尖端领域.导纳轨迹的求解与模拟是研究多层薄膜系统性质的有力工具,表示方式直观简便,在分析与

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