光谱共焦厚度检测系统研究
发布时间:2021-08-29 20:09
随着高端精密制造业快速发展,各类透明板材广泛应用于工业、科研、建筑及航空航天等领域,市场对各类透明板材需求不断增大的同时,对其产品质量的要求也在不断提高。厚度作为评价各类透明板材产品质量的重要因素,备受生产企业的重视,透明板材的厚度检测技术也一直是研究热点。目前,已有的非接触式厚度检测系统一般具有速度快、精度高等特点,克服了接触式检测的诸多缺点,但是与此同时,目前已有的检测技术也存在着一些难以克服的固有局限性,诸如对测量角度的要求,对被测元件表面平整度和清洁度的要求,以及对测量距离的要求等等,此类局限性限制了这些检测手段的工业普及。而本文所研究的光谱共焦厚度检测技术是一种较为新颖的前沿技术,它利用光谱共焦原理,通过光学色散建立聚焦距离和波长间的对应关系,再通过光谱探测器件进行光谱解码从而获得位置信息。该技术克服了已有检测系统的诸多局限性,其检测精度能达到微米量级。而且光谱共焦技术采用复色光源,具有多表面层析的特点,除了可以准确测量石英玻璃等材质的厚度,还可测量塑料平板、金属薄膜、各类光学元件等的厚度。此外,由于本系统采用同轴光学结构,使光学结构尽可能的简单化,小型化和集成化,同时也有效...
【文章来源】:浙江大学浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:73 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图2.1光谱共焦光路结构??其工作原理为:宽光谱光源S发出连续均勻的可见光光波经过会聚透镜尤后??
上不同的位置,最后利用线性CCD上4和;12光波的位置信息进行解码,就可以获??得被测物体上下表面对应的距离值。??但图2.1所示的光路结构较为复杂,且占用空间较大,系统装配过程繁琐,??不利于本厚度检测系统的小型化和集成化,难以实现工业化检测。为此,利用光??纤以及其他光电器件可以将光路结构进一步简化成图2.?2所示的结构[25]。??光源?光谱分析??系统?系统???1?光纤? ̄ ̄-r- ̄??¥/???i???耦合器?“??召?1?1??色散选频/?V???光学系统^?4?U??输出信号???????图2.?2光谱共焦系统结构??图2.2所示简化后的厚度检测系统工作原理与图2.?1中所示结构基本一致,??宽光谱光源发出光强连续均勻分布的白光耦合进入Y型耦合光纤,在Y型耦合光??纤的公共端出射,此时光源可以近似看成点光源,再经由色散透镜组后会产生光??8??
码被测物体表面对应的距离值的目的。由于采用了共焦技术,每一个特定波长都??对应这一个特定的轴向位置。??根据共焦光谱的原理,光谱共焦厚度检测系统整体流程如下图2.3所示,??主要分为四个阶段[26]:??(1)
【参考文献】:
期刊论文
[1]光电技术的发展及应用[J]. 王华. 电子技术与软件工程. 2017(12)
[2]基于光谱共焦位移传感器的非接触式回转误差测量系统[J]. 蓝河,雷大江,钱林弘,夏欢,孙树磊. 制造技术与机床. 2017(03)
[3]基于白光LED的光谱共焦位移传感器[J]. 王津楠,陈凤东,刘炳国,甘雨,刘国栋. 中国测试. 2017(01)
[4]基于复色共焦的透明材料厚度测量系统研究[J]. 张宁,徐熙平,吴嘉辉,刘宇龙,李磊. 长春理工大学学报(自然科学版). 2013(05)
[5]光谱共焦显微镜的线性色散物镜设计[J]. 刘乾,杨维川,袁道成,王洋. 光学精密工程. 2013(10)
[6]一种新型光谱共焦位移测量系统研究[J]. 柳晓飞,邓文怡,牛春晖,金博石. 传感器与微系统. 2013(04)
[7]光谱共焦透镜组设计及性能优化[J]. 牛春晖,李晓英,郎晓萍. 北京信息科技大学学报(自然科学版). 2013(02)
[8]光谱共焦测量系统中的色散透镜组设计[J]. 金博石,邓文怡,牛春晖,李晓英. 光学技术. 2012(06)
[9]光谱共焦位移传感器镜头设计研究[J]. 武芃樾,袁道成. 工具技术. 2012(02)
[10]光谱共焦位移传感器测量透明材料厚度的应用[J]. 朱万彬,曹世豪. 光机电信息. 2011(09)
硕士论文
[1]光谱共焦位移传感器设计技术研究[D]. 武芃樾.中国工程物理研究院 2012
[2]石英晶片厚度检测仪研究与设计[D]. 田世锋.中南大学 2004
本文编号:3371302
【文章来源】:浙江大学浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:73 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图2.1光谱共焦光路结构??其工作原理为:宽光谱光源S发出连续均勻的可见光光波经过会聚透镜尤后??
上不同的位置,最后利用线性CCD上4和;12光波的位置信息进行解码,就可以获??得被测物体上下表面对应的距离值。??但图2.1所示的光路结构较为复杂,且占用空间较大,系统装配过程繁琐,??不利于本厚度检测系统的小型化和集成化,难以实现工业化检测。为此,利用光??纤以及其他光电器件可以将光路结构进一步简化成图2.?2所示的结构[25]。??光源?光谱分析??系统?系统???1?光纤? ̄ ̄-r- ̄??¥/???i???耦合器?“??召?1?1??色散选频/?V???光学系统^?4?U??输出信号???????图2.?2光谱共焦系统结构??图2.2所示简化后的厚度检测系统工作原理与图2.?1中所示结构基本一致,??宽光谱光源发出光强连续均勻分布的白光耦合进入Y型耦合光纤,在Y型耦合光??纤的公共端出射,此时光源可以近似看成点光源,再经由色散透镜组后会产生光??8??
码被测物体表面对应的距离值的目的。由于采用了共焦技术,每一个特定波长都??对应这一个特定的轴向位置。??根据共焦光谱的原理,光谱共焦厚度检测系统整体流程如下图2.3所示,??主要分为四个阶段[26]:??(1)
【参考文献】:
期刊论文
[1]光电技术的发展及应用[J]. 王华. 电子技术与软件工程. 2017(12)
[2]基于光谱共焦位移传感器的非接触式回转误差测量系统[J]. 蓝河,雷大江,钱林弘,夏欢,孙树磊. 制造技术与机床. 2017(03)
[3]基于白光LED的光谱共焦位移传感器[J]. 王津楠,陈凤东,刘炳国,甘雨,刘国栋. 中国测试. 2017(01)
[4]基于复色共焦的透明材料厚度测量系统研究[J]. 张宁,徐熙平,吴嘉辉,刘宇龙,李磊. 长春理工大学学报(自然科学版). 2013(05)
[5]光谱共焦显微镜的线性色散物镜设计[J]. 刘乾,杨维川,袁道成,王洋. 光学精密工程. 2013(10)
[6]一种新型光谱共焦位移测量系统研究[J]. 柳晓飞,邓文怡,牛春晖,金博石. 传感器与微系统. 2013(04)
[7]光谱共焦透镜组设计及性能优化[J]. 牛春晖,李晓英,郎晓萍. 北京信息科技大学学报(自然科学版). 2013(02)
[8]光谱共焦测量系统中的色散透镜组设计[J]. 金博石,邓文怡,牛春晖,李晓英. 光学技术. 2012(06)
[9]光谱共焦位移传感器镜头设计研究[J]. 武芃樾,袁道成. 工具技术. 2012(02)
[10]光谱共焦位移传感器测量透明材料厚度的应用[J]. 朱万彬,曹世豪. 光机电信息. 2011(09)
硕士论文
[1]光谱共焦位移传感器设计技术研究[D]. 武芃樾.中国工程物理研究院 2012
[2]石英晶片厚度检测仪研究与设计[D]. 田世锋.中南大学 2004
本文编号:3371302
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/wulilw/3371302.html
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