基于偏振探测的目标偏振特性的研究

发布时间：2021-08-30 01:49

　　光波经过物体表面反射、散射后偏振态将发生变化,会加载目标的许多信息。偏振探测技术就是通过探测光波照射物体前后偏振态的变化来获取目标信息的。在偏振探测技术中,穆勒矩阵（Mueller）能够很好描述这种光波偏振态的变化,是获取目标偏振特性的重要手段。但Mueller矩阵的测量受物体材料、粗糙度、周围环境、入射角等因素影响很大,因此,本论文重点研究了不同入射角对目标Mueller矩阵的影响,进而分析了入射角与目标的双向衰减参量、偏振参数、退偏振指数等偏振指标的关系。具体工作如下:1、采用多次旋转式Mueller矩阵测量装置,测量了不同入射角下金属目标（铜片、铝片、钢片）和非金属目标（硅片、蓝宝石片）的Mueller矩阵。测量的实验装置由圆偏振光产生系统、起偏系统、检偏系统构成。为使数据处理简单,设计起偏系统偏振片和波片的旋转角度,以获得6种特殊偏振态的入射光,设计检偏系统偏振片和波片的旋转角度,以获得6种特殊检偏系统Mueller矩阵,再根据斯托克斯矢量（Stokes）与Mueller矩阵的关系求解出目标的Mueller矩阵。2、分析了入射角对三种金属材料和两种非金属材料Mueller矩阵各... 

【文章来源】：辽宁师范大学辽宁省

【文章页数】：54 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

椭圆偏振各参量之间的关系

庞加球图示法Figure2.2Poincarespheregraphicmethod

0m随入射角变化曲线


本文编号：3371814