典型GIS设备的X射线数字检测技术研究
发布时间：2024-01-17 14:24
应用X-DR技术对典型GIS设备在实验室进行了缺陷模拟及GIS设备实地检测,实现了GIS设备在不解体、不破坏条件下的可视化无损检测。试验表明,X-DR技术可以在现场GIS设备运行的情况下检测出缺陷。
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本文编号：3879240
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