基于四组加速退化试验的VFD寿命预测
发布时间:2021-06-11 05:09
为在短时间内准确获得真空荧光显示器的寿命信息,该文在提高阴极灯丝温度的基础上开展四组恒定应力作用下的加速退化试验,利用加速时间与加速系数的关系将加速应下的试验数据转化为常规应力下的亮度衰减数据,基于三参数威布尔函数和右逼近法建立寿命预测模型,从而实现寿命的估算。结果表明,加速退化试验方案切实可行,基于亮度衰减的寿命模型不仅准确揭示亮度随时间的变化规律,而且具有较高的预测精度,可为制造商和用户提供技术参考,并可推广到其他光电产品。
【文章来源】:中国测试. 2020,46(04)北大核心
【文章页数】:5 页
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于比例危险退化建模的产品可靠性评估方法[J]. 蔡忠义,陈云翔,李超,李姗姗. 电光与控制. 2018(03)
[2]基于加速退化数据的可靠性评估技术综述[J]. 王浩伟,滕克难. 系统工程与电子技术. 2017(12)
[3]大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析[J]. 王文知,井红旗,祁琼,王翠鸾,倪羽茜,刘素平,马骁宇. 发光学报. 2017(02)
[4]性能退化量分布LED可靠性评估[J]. 徐欢,刘桂雄,余荣斌. 中国测试. 2016(09)
[5]基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估[J]. 夏云云,文尚胜,方方. 光子学报. 2016(09)
[6]基于PoF模型的电子产品可靠性参数计算方法[J]. 骆明珠,陈颖,康锐. 系统工程与电子技术. 2014(04)
[7]VFD显示图像缺陷检测技术研究[J]. 李定珍,王萍. 液晶与显示. 2013(01)
[8]基于AT89C52的VFD显示模块应用[J]. 张猛,王瑞光,郑喜凤. 液晶与显示. 2012(01)
[9]GaAs PHEMT器件高温加速寿命试验及物理分析[J]. 崔晓英,许燕,黄云. 电子器件. 2010(01)
[10]加速退化试验技术综述[J]. 邓爱民,陈循,张春华,汪亚顺. 兵工学报. 2007(08)
本文编号:3223877
【文章来源】:中国测试. 2020,46(04)北大核心
【文章页数】:5 页
【参考文献】:
期刊论文
[1]基于比例危险退化建模的产品可靠性评估方法[J]. 蔡忠义,陈云翔,李超,李姗姗. 电光与控制. 2018(03)
[2]基于加速退化数据的可靠性评估技术综述[J]. 王浩伟,滕克难. 系统工程与电子技术. 2017(12)
[3]大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析[J]. 王文知,井红旗,祁琼,王翠鸾,倪羽茜,刘素平,马骁宇. 发光学报. 2017(02)
[4]性能退化量分布LED可靠性评估[J]. 徐欢,刘桂雄,余荣斌. 中国测试. 2016(09)
[5]基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估[J]. 夏云云,文尚胜,方方. 光子学报. 2016(09)
[6]基于PoF模型的电子产品可靠性参数计算方法[J]. 骆明珠,陈颖,康锐. 系统工程与电子技术. 2014(04)
[7]VFD显示图像缺陷检测技术研究[J]. 李定珍,王萍. 液晶与显示. 2013(01)
[8]基于AT89C52的VFD显示模块应用[J]. 张猛,王瑞光,郑喜凤. 液晶与显示. 2012(01)
[9]GaAs PHEMT器件高温加速寿命试验及物理分析[J]. 崔晓英,许燕,黄云. 电子器件. 2010(01)
[10]加速退化试验技术综述[J]. 邓爱民,陈循,张春华,汪亚顺. 兵工学报. 2007(08)
本文编号:3223877
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/xinxigongchenglunwen/3223877.html