在片校准标准件基底边界条件影响

发布时间：2022-01-21 18:59

　　通过分析国内外校准标准件物理边界条件,研究不同校准基底的物理边界条件对共面波导（CPW）传输线特性和校准准确度的影响。研制了W波段砷化镓衬底的多线TRL在片校准标准件,将在片校准标准件分别放置在金属卡盘、玻璃片、吸波材料三种校准基底上。用三种不同校准基底的校准标准件对试验装置校准后,分别提取了CPW传输线的衰减常数、相对介电常数和特征阻抗,并对商用校准标准件104-783A的短路标准和传输线标准进行了测试,验证了结果的合理性。 

【文章来源】：宇航计测技术. 2020,40(03)CSCD

【文章页数】：5 页

【部分图文】：

多线TRL校准标准件放在金属卡盘上示意图

图2中，将研制的校准标准件在金属卡盘之间放置厚度为500μm的透明玻璃片，用准确度更高的多线TRL方法进行校准和测试。图3中，将研制的校准标准件在金属卡盘之间放置厚度为500μm的吸波材料，用准确度更高的多线TRL方法进行校准和测试。

图3中，将研制的校准标准件在金属卡盘之间放置厚度为500μm的吸波材料，用准确度更高的多线TRL方法进行校准和测试。根据上述分析，研究的三种校准基底的校准标准件临界频率会存在差异，因此，校准和测试结果也会不同，将通过试验进行验证分析，得到最佳校准和测试效果下的校准基底。

【参考文献】：
期刊论文
[1]在片Multi-TRL校准技术研究[J]. 王一帮,栾鹏,孙静,刘晨,吴爱华,梁法国.  中国测试. 2018(04)
[2]基于Multi-TRL算法的传输线特征阻抗定标[J]. 王一帮,栾鹏,吴爱华,梁法国,孙静.  计量学报. 2017(02)



本文编号：3600786