TFT-LCD面板缺陷成像、提
发布时间:2024-06-29 07:47
随着液晶面板行业的发展,薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)面板的尺寸越来越大,在面板缺陷检测技术上,传统人工视觉检测技术逐步被自动光学检测技术所替代,成为在提高企业生产效率和质量上的关键技术之一。本文主要研究了面板缺陷的提取,缺陷特征的提取与选择和缺陷多类别分类的问题。在缺陷提取部分,测试了基于谱残差的显著性模型,发现该模型对缺陷大小敏感,故对该模型进行改进并将其用于检测面板图像经二维离散傅里叶变换(DFT)后获得的频谱图中的高能量成分,同时生成频域滤波器将该部分消除,经过而二维离散傅里叶逆变换(IDFT)重构图像,达到去除空域中面板图像周期性方向纹理和保留缺陷的目的。同时使用灰度共生矩阵研究了模型中参数取值问题,在固定参数的条件下改进后的模型不受缺陷大小和灰度值以及面板纹理的影响。在缺陷特征提取部分,根据本文中图像的特点优化了部分算法。选用两步法对缺陷二值连通区域进行标记,并对算法中的排序操作进行优化,较原始算法标记速度提升约79.3%。在凸包算法上,比较了Melkman算法与Andrew算法,并在减少边缘点策略上提出了水平方向修整和垂直方向修整两种策略。在求解凸包上只进行水平方...
【文章页数】:87 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
本文编号:3997386
【文章页数】:87 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图1.2面板缺陷Fig1.2Paneldefects
(d)划痕缺陷图1.2面板缺陷Fig1.2Paneldefects1.3TFT-LCD液晶面板缺陷检测自动分类研究现状液晶面板缺陷检测和自动分类是近些年来研究的一个热点,许多学者做了很多研究。在缺陷提取方面,大致分为图像空域缺陷提取、基于离散傅里叶变换的频域缺陷提....
图2.1面板缺陷检测
合肥工业大学学术第二章缺陷分离特征2.1TFT-LCD面板成像系统的构成为获取TFT-LCD面板图像,使用如由两个可调角度的器材安装架、线阵CC匀速运动的载物台以及相关的控制电机系线CCD(像素尺寸为5×5μm,最高分辨线扫描镜头(焦距120mm,工作距离39....
图2.2项目中的面板检测样机Fig2.2Paneldefectdetectionprototypeintheproject
素尺寸为5×5μm,最高分辨率为4×16584),镜头采用长(焦距120mm,工作距离390.5mm,标准放大倍率0.5),光源两种。项目中的面板缺陷检测样机如图2.2所示,光为气浮导轨。光源载物台图2.1面板缺陷检测试验机及原理简图Fig2.1Panel....
图2.3部分面板图像
图2.3部分面板图像Fig2.3Aportionofthepanelimage原始图像缺陷图像特征提取特征选择训练分类图2.4本文图像处理流程Fig2.4Flowchartofimageprocessinginthisarticle2.2....
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