自动周期选取的DFT方法在TFT-LCD平板检测中的应用

发布时间：2017-08-15 09:20

  本文关键词：自动周期选取的DFT方法在TFT-LCD平板检测中的应用

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【摘要】：在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,一维DFT方法非常有效,空间域图像中周期Δx作为关键参数之一,需要准确地获取。传统的Δx的获取是通过人工手动计算得到的,为了自动获取Δx,设计了自动周期选取算法,利用数学统计对一维无缺陷图像进行处理,通过提取峰值位置、排序、计算间距和统计次数,得到准确的Δx。搭建了TFT-LCD平板检测实验系统,实验对不同长度(N=256、320和400)、不同分辨率(8.1、9.5和10.7μm/像素)、不同光照下的图像进行处理,能够准确地获取Δx,准确率达100%。将选取的Δx应用于缺陷检测中,系统可以准确检测出缺陷区域,证明了该选取方法具有良好的实用性和鲁棒性。
【作者单位】： 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院;
【关键词】： TFT-LCD 缺陷检测 一维傅里叶变换 周期Δx
【基金】：国家重大仪器专项(2013YQ220749)项目资助
【分类号】：TP391.41;TN873.93
【正文快照】： 1引言近年来,由于薄膜晶体管-液晶显示屏(TFT-LCD)的全彩色显示能力、低功耗和重量轻等特点,使得TFT-LCD广泛应用于各种电子设备中,例如电视机、数码相机、笔记本电脑和移动终端等显示领域。为了保证显示质量和提高产量,TFT-LCD平板表面缺陷检测已经成为其制造过程中的一项重

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本文编号：677382