光交换芯片的串扰分析与DQPSK信号传输实验

发布时间：2017-09-07 02:42

  本文关键词：光交换芯片的串扰分析与DQPSK信号传输实验

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【摘要】：串扰和插入损耗是表征光交换芯片传输性能的重要参数。将串扰与插入损耗特性结合起来,提出一种分析光交换集成芯片串扰的理论模型,考虑了串扰对开关路由的依赖性。实验测量了基于马赫-曾德尔干涉仪(MZI)的4×4拜尼兹结构的光交换集成芯片的串扰和插入损耗系数,以及不同开关路由状态下40 Gb/s差分四相相移键控(DQPSK)信号的传输性能,实验结果与理论分析基本一致。根据测得的串扰和插入损耗系数,计算了16×16光交换芯片串扰范围。
【作者单位】： 电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室;
【关键词】： 光通信 光子集成芯片 光开关阵列 串扰 插入损耗
【基金】：国家863计划(2012AA011304) 国家自然科学基金(61271166) 教育部创新团队发展计划
【分类号】：TN929.11
【正文快照】： 1引言光纤通信的发展离不开传输和交换两大技术。联合使用波分复用技术与高阶光调制技术使光纤传输的容量大大提高,而现有全光交换技术尚不能达到光传送网的交换规模需求和光分组交换的交换速度要求。光交换芯片技术的发展也越来越受到重视[1-2]。其中,基于载流子色散效应的硅

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