基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨

发布时间：2017-10-26 03:34

  本文关键词：基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨

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【摘要】：本文分析不锈钢样品并进行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通过Pu-238同位素源和微功耗X光管激发对比,以及SDD和Si-PIN探测器探测对比,评价SDD探测器在不锈钢主成分X射线荧光分析中的应用效果。实验中Pu-238同位素源采用双源对称布置,总活度为1.48×109Bq；X光管为Rh靶端窗结构,功率为18kV/10μA; SDD和Si-PIN探测器的FWHM分别为136eV和185eV(对MnKa的5.9keVX射线)。采用权因子影响系数法校正基体效应。研究结果表明：(1)SDD探测器的分析精度优于Si-PIN,其最大分析误差、平均分析误差都小于Si-PIN。说明FWHM更窄的探测器克服谱峰干扰和解决基体效应的效果更好。(2)单色(多色)光源比连续X射线谱激发源在不锈钢主成分分析精度方面有更大的优势。X光管的光子输出率高,可以提高分析速度,但同时会产生连续谱本底,增加了特征峰的测量误差,导致分析精度降低。(3)对SDD探测器和Pu-238源组成的实验系统,分析不锈钢主成分Cr、Ni、Fe的最大绝对误差分别是0.19%、0.30%、0.74%。分析精度可满足常规分析的要求。因此,基于SDD探测器的X射线荧光分析仪在合金分析中具有推广应用前景。
【关键词】：X射线荧光分析 SDD探测器 不锈钢 基体效应 快速分析
【学位授予单位】：东华理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TH871
【目录】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 1 绪论8-16
• 1.1 选题背景及研究依据8-10
• 1.2 国内外研究现状10-13
• 1.2.1 现场X射线荧光分析的发展现状10-12
• 1.2.2 不锈钢的发展与分析标准12-13
• 1.3 研究内容及研究方法13-14
• 1.3.1 研究内容13-14
• 1.3.2 研究方法14
• 1.4 成果特色14-16
• 2 X射线荧光分析的理论基础16-30
• 2.1 X射线荧光分析的基本原理16-20
• 2.1.1 定性分析的物理依据16-17
• 2.1.2 定量分析的基本公式17-20
• 2.2 探测器的选择20-25
• 2.3 激发源的选择25-30
• 3 实验仪器与装备30-42
• 3.1 实验设备30-36
• 3.1.1 探测器的准备30-31
• 3.1.2 X射线管的准备31-32
• 3.1.3 数字化谱仪的准备32-33
• 3.1.4 实验平台的搭建33-35
• 3.1.5 实验仪器的稳定性检查35-36
• 3.2 样品的准备36-37
• 3.3 基体效应研究与多参数校准模型37-42
• 3.3.1 基体效应分析37-39
• 3.3.2 权因子校正模型39-42
• 4 实验结果与分析42-52
• 4.1 基于SDD探测器分析系统的分析结果42-45
• 4.1.1 用Pu-238同位素激发的分析结果42-44
• 4.1.2 用X光管激发的分析结果44-45
• 4.2 基于SDD与Si-PIN分析仪的分析对比结果45-47
• 4.3 未知样品的分析对比结果47-49
• 4.4 重复分析检查结果49-52
• 结论52-54
• 致谢54-56
• 参考文献56-60
• 攻读学位期间取得学术成果60

【参考文献】

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本文编号：1096850