像方扫描机制的红外成像制导光学系统设计

发布时间：2017-10-30 16:28

  本文关键词：像方扫描机制的红外成像制导光学系统设计

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【摘要】：提出了一种新型的像方扫描机制的红外成像制导光学系统设计构型。该扫描系统体积小、结构简单,具有大视场搜索和小视场分辨的特点。设计了一个红外光学系统实例,工作波段为3.7~4.8μm,焦距为80 mm,扫描视场为±15°,瞬时视场为5°。系统全视场MTF在17 lp/mm处均大于0.5,点斑均方根直径小于30μm,满足光学系统的成像要求。
【作者单位】： 光电控制技术重点实验室;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所;
【关键词】： 像方扫描 红外成像制导 光学系统设计 像质评价
【分类号】：TH74
【正文快照】： 0引言近年来,随着红外成像技术的不断成熟和工程化、实用化发展,红外成像制导已成为精确制导技术研究领域的新热点[1]。红外成像制导利用红外成像探测原理进行目标探测,实现对目标检测、识别与跟踪[2-3],具有抗干扰能力强、隐蔽性好、制导精度高和准全天候工作的优点[4]。光学

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本文编号：1118445