小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用

发布时间：2017-11-06 03:27

  本文关键词：小孔径采样在大口径系统主镜装调中的应用

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【摘要】：为了满足大口径光学—红外系统主镜的检测装调,引入了小孔径采样方法对于系统主镜的低阶误差进行分析,进而对系统的装调进行指导。随着光学-红外系统的口径加大,由于检测成本等原因,之前在装调时使用的与制造过程中相同的检测方法已经不再适用。本文首先对于小孔径扫描的基本原理做出了介绍,之后提出了实现本文方法的硬件结构,最后通过数值仿真来验证本文方法的正确性与可行性。对于大口径光学-红外系统主镜的装调检测有着较好的指导作用。
【作者单位】： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
【基金】：中科院三期重大科研专项资助
【分类号】：TH743
【正文快照】： 1引言随着光学-红外探测系统口径的不断增加,相应器件的检验难度也随之加大。尤其对于大口径反射镜之类的光学元件,其表面面形的检测与评价直接影响着其制造精度与成像质量。在实际的工程应用之中,对于大口径的反射元件,一般都会留有若干调整环节。但是这些环节的空间带宽有限

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本文编号：1147156