消像散型Czerny-Turner成像光谱仪图像变形校正研究

发布时间：2017-12-15 10:28

  本文关键词：消像散型Czerny-Turner成像光谱仪图像变形校正研究

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【摘要】：Czerny-Turner结构成像光谱仪像散校正会改变系统焦距,导致图像子午方向和弧矢方向放大率存在差异。分析了两种Czerny-Turner结构成像光谱仪像散校正光路(柱面镜和超环面)像散校正原理,由此提出并推导出两类光谱图像变形校正公式和方法,并总结二者的共同特征。通过理论计算、光线追迹仿真和实际光谱成像测量验证了图像变形校正方法的正确性。同时,该图像校正方法对其他准直光工作条件下离轴结构色散型成像光谱仪图像变形校正研究有借鉴意义。
【作者单位】： 北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室;
【基金】：国家973计划(2013CB329202) 工业技术基础项目(J312012B002)
【分类号】：TH744.1
【正文快照】： 1引言成像光谱技术是一种图谱合一的新型信息获取技术。在传统的光栅色散型成像光谱仪中,多数采用Czerny-Turner结构[1-3]。近年来,国内外学者对该结构成像光谱仪最主要的像差——像散提出了一系列校正方法,2002年,Futamata等[4]提出利用超环面校正Czerny-Turner结构的像散,20

【参考文献】

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本文编号：1291668