诊断X射线曝光时间非介入式测量研究

发布时间：2018-03-03 15:55

  本文选题：诊断X射线　切入点：曝光时间　出处：《中国测试》2015年01期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：曝光时间是诊断X射线的重要参数之一,根据半导体探测器体积小、灵敏度高及响应快等特点,研制一种用于非介入式测量曝光时间等参数的测量仪,建立诊断X射线曝光时间测量模型,并给出曝光时间非介入式测量的电路构成和软件流程。实验表明:研制的诊断X射线多参数测量仪适用于曝光时间的非介入式测量和校准。
[Abstract]:The exposure time is one of the important parameters of X ray diagnosis, according to the semiconductor detector has the advantages of small size, high sensitivity and fast response, the development of a measuring instrument for non-invasive measurement of exposure time and other parameters, the establishment of diagnostic X ray exposure time measurement model, and gives the exposure time of non circuit and software process of intrusive measurement. Experimental results show that the X ray diagnosis multi parameter measuring instrument developed for non-invasive measurement and calibration of the exposure time.

【作者单位】： 中测测试科技有限公司;中国测试技术研究院;
【基金】：国家重大科学仪器设备开发专项(2013YQ090811) 四川省科技计划项目(2013GZ0010)
【分类号】：TH774

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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