ZSX100e型X射线荧光光谱仪光路系统故障分析

发布时间：2018-05-08 01:03

  本文选题：荧光光谱仪 + 光路系统　； 参考：《岩矿测试》2014年05期

【摘要】：正X射线荧光光谱分析具有分析元素范围广、分析含量范围宽、分析精度高、重现性好等优点,属于非破坏性分析,可进行薄膜的组分和厚度的分析,易于实现自动化及在线分析,被广泛应用于电子和磁性材料、化学工业、陶瓷和水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境等领域。X射线荧光光谱仪基本由五大部分组成,即激发系统、分光系统、探测系统、仪器控制系统和数据处理系统等。分光系统是对来自样品元素的特征谱线进行分辨和限
[Abstract]:Positive X-ray fluorescence spectroscopy has the advantages of wide range of analytical elements, wide range of analytical contents, high analytical accuracy and good reproducibility. It belongs to non-destructive analysis and can be used to analyze the composition and thickness of thin films. Easy to automate and analyze on line, widely used in electronics and magnetic materials, chemical industry, ceramic and cement industry, iron and steel industry, non-ferroalloy, geology and mineral, petroleum and coal, The XRF spectrometer is composed of five parts: excitation system, spectroscopic system, detection system, instrument control system and data processing system. The spectroscopic system is used to distinguish and limit the characteristic lines from the elements of the sample.
【作者单位】： 国家地质实验测试中心;浙江省地质矿产研究所;钢研纳克检测技术有限公司;
【基金】：国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ050076)
【分类号】：TH744.16

【共引文献】

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本文编号：1859244