工业XCT用新型X射线探测器性能的模拟研究

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重庆大学硕士学位论文工业X-CT用新型X射线探测器性能的模拟研究姓名:周密申请学位级别:硕士专业:模式识别与智能系统指导教师:魏彪20040510重庆大学硕士学位论文中文摘要摘要工业X.CT(IndustrialX.putedTomography,ICT)是工业用x射线计算机层析成像或工业用x射线计算机断层扫描成像的简称。自诞生以来,其发展和应用令人瞩目,特别是在无损检测与无损评价领域显示出了其独特的优点,西方发达国家均投入大量的人力、物力对其进行研究。诚然,计算机图像技术的飞速发展对工业X.CT起到了极其重要的作用,但另一个决定性因素还在于x射线探测器技术的进步。X射线探测器的技术指标限定了这些设备最后的技术水平。在工业X—CT系统中,探测器技术是工业X-CT系统的三大关键技术之一(探测器技术、图像重建及处理技术和机械与自动控制技术)。探测器技术就是如何把x射线与被检测物作用后,将包含有被检测物信息的射线信号转化成为可进行处理的电信号。该测量技术将直接影响到工业X.CT系统的性能指标及应用效果。本文详细研究了国内外工业X.CT中探测器的设计方案,对x射线管为射线源,基于CsI(T1)D(ChargeCoupledDevice)器件,采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输,以扇形束线阵扫描方式实现对x射线探测... 内容来自转载请标明出处.

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