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基于LabVIEW的荧光光谱测试系统的设计

发布时间:2020-08-14 19:39
【摘要】:目前,我国不断深入对荧光光谱测试系统的研究,该系统采用荧光光谱检测技术来得到检测物质材料的荧光光谱,具有精度高、宽光谱的优点,且被广泛应用到物质检测、荧光探针以及稀土掺杂发光材料等方面的研究。荧光光谱测试系统是采用荧光光谱测试技术结合上位机虚拟软件实现荧光数据的采集、转换、处理以及显示的整体,研究该系统的升级对保持其先进性具有重要的意义。文章从硬件和软件两个方面对本文设计的荧光光谱测试系统进行了详细的阐述。其中,硬件系统部分制定出整体的设计方案,主要包括斩波器及其电路的设计、光栅单色仪及其控制电路的设计以及锁相放大器,分别用于对荧光信号实现调制为固定频率的脉冲、分解为单色光和滤波等的操作。软件系统借助于上位机LabVIEW的虚拟仪器技术平台,使用LabVIEW编程主要是对前面板和程序框图的设计。程序框图中使用各种图形化代码实现系统的功能,结合前面板的显示,最终设计出效率更高、方便研究人员使用的的人机界面操作系统。运用该系统可以对采集到的荧光数据进行显示、处理和存储,数据处理部分主要包括巴特沃斯滤波器和曲线的拟合。最后,为验证测试系统的实际应用能力,文章还介绍了应用该系统进行对KLa(MoO_4)_2:Ho3+/Yb3+和Y_2O_3:Er3+/Gd3+样品的检测,得到了两者的光谱曲线,证明了本次设计的系统的可靠性,实现了对荧光光谱测试系统的升级的目标。
【学位授予单位】:吉林建筑大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TH744.1
【图文】:

总体设计方案,测试系统,荧光光谱


吉林建筑大学工程硕士论文第 2 章 荧光光谱测试系统的硬件组成2.1 总体方案设计出一套基于 LabVIEW 的荧光光谱测试系统,整个测试系统主要包括斩波器、Omni- 3007 光栅单色仪、光电探测器、SR830 锁相放大器与上位机荧光光谱测试系统。根据荧光光谱测试系统的实际应用上的需求,本文使用 LabVIEW编写荧光光谱测试系统的测试软件部分,能够完成荧光数据的采集、显示、分析处理和保存的功能,详细的系统的工作流程框图如图 2-1 所示:

斩波,斩波器,叶片


图 2-2 斩波器斩波片Fig.2-2 Chopper of chopper计中使用 MC1F10A 可调节的 1,这种斩波片选择的 0.01 英寸的占空比。这个叶片能够扩展光学 10 槽叶片由两个圆盘构成。使对准且朝前。拧紧安装螺丝,可同占空比决定了光束的最大直径C1F10HP 叶片。这种叶片斩波频00kHz。同步操作则需要设计为有将光束聚集到叶片槽最宽处,则能

模块图,步进电机驱动,模块


7脉频调制(PFM)、脉位调制(PPM)、脉码调制(PCM)和增量调制(ΔM)。相比较而言,PWM 调制方式可降低整个系统的电阻损耗,采用调节脉冲的初始时间以及脉冲之间的延时时间的方式,控制电机匀速转动的时候,此时改变运动方向,电机不会立马恢复到原先的速度,必须要开始执行短时的加速操作,通常起步需要实行升频措施,而需要暂停运行的时候还要进行必要的减速措施,但是减速时间少于加速时间。为保证不失步运行,电机需要低速启动,接着才能提高速度,最后减小速度直至停止。这一过程的控制都要加上必要的时间延时,升频过程中延时需要不断减小,降频则又刚好相反,恒速保持不变。另外角度上发生变化是根据原来的角度进行比较,大则正传,小则逆转。(3) 控制电路AT89C51 是由高密度与非易失性存储技术生产的低电压、高性能 CMOS 的

【参考文献】

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本文编号:2793459

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